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基于量子力学效应的多子带MOS器件修正系统

         

摘要

对于MOS器件隧穿电流的测量及修正,通过自洽解的方式运算复杂且时效较低。以表面势解析为基础,提出多子带向单子带等效的方案。通过向单子带的等效,大量减少对应的拟合参数,简化运算步骤,提高精度。同时经过算例验证,方案切实可行,并与自洽解方式进行对比,提高了计算的时效性,具备更高的精确性及普适性。同时,将隧穿模型用于不同栅介质材料的测量,并与实际数据进行对比,结果吻合度高,更加适用于MOS器件修正模拟。

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