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离子注入制备的纳米Si光致发光特性研究

         

摘要

将Si离子注入到热氧化生长的SiO2层,分别进行常规退火和快速退火制得含纳米晶硅薄膜。在室温下测量了样品的光致发光谱及其与退火温度的关系。实验结果表明,在900℃以上退火,可观察到纳米Si的发生;在1100℃下退火,纳米Si发光达到最强。由常规退火和快速退火样品的光致发光光谱的对比得出快速退火对纳米Si发光有增强的作用。对发光机制进行了探讨,认为其发光机理可归结为纳米Si/SiO2界面处Si=O键引起的发光。

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