首页> 中文期刊> 《国外电子测量技术》 >基于DSP的混合信号测试中的进展

基于DSP的混合信号测试中的进展

         

摘要

混合信号器件与电路板的测试仍然是一昂贵和费时的过程,因为必须同时具备数字和模拟测试设备。模拟测试存在的问题是,测试过程不象数字测试那样容易自动进行:必须为每一个新的被测器件(DUT)的每一个不同参数开发测试程序。 随着标准测试方法的发展,比如JTAG以及现在的IEEE1149,数字测试已取得进展。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号