LabVIEW从测量扩展到设计应用

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LabVIEW从测量扩展到设计应用

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图形编程工具LabVIEW在测试和测量领域深受欢迎，拥有广大用户，其本身亦在不断发展以适应测量技术的进步。当前，大量测量仪器采用嵌入式微机和DSP系统，以及FPGA、Flsah等新型逻辑和存储器件，还有多种总线的混合使用。由于测量系统的复杂程度增加，使得测量系统的设计和测量密不可分。这种情况与集成电路非常相似，早期的IC设计和测量是分开的，后来IC的复杂性提高，

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来源
《国外电子测量技术》 |2005年第4期|46-46|共1页
作者
J·Ling;
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作者单位

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类电气测量技术及仪器;
关键词
LabVIEW软件; 测量扩展; 设计应用; 图形编程工具;

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