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NI和TI合作采用虚拟仪器技术提高电源监测效率

         

摘要

美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)宣布与德州仪器(Texas Instruments,简称TI)和Spectrum Digital(SDI)共同合作开发全新的TIC55X电源优化DSP入门套件(DSK),该产品集成测试测量功能的DSP设计工具,结合NI基于USB的测量硬件,以及基于NILabVIEW软件的电源监测应用,为精确规划、分析、管理并优化实时功耗提供一整套电源评估及测量工具,使用户无需再分开购买DSP和价格不菲的电源监测硬件。

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