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提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法

         

摘要

伴随着现代大规模集成电路制造工艺的快速发展,设计工程师必需直面芯片制造过程中可能产生的物理缺陷。现今流行的可测试性设计(DFT:Design For Testability)应运而生,并为保证芯片的良品率担任着越来越重要的角色。

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