测试覆盖率

摘要： 基于HAZOPk it分析软件,对安徽某企业氯化危险工艺的SIF回路进行了SIL验证,研究表明,一个SIF回路的SIL等级,是由SIF回路中的触发机构、逻辑处理器和执行机构3个单元的PFD共同决定的,并给出了不同测试覆盖率和不同测试间隔下的要求时的平均失效概率。对验证结果不满足SIL等级要求的SIF回路,可以调整优化部分参数,例如缩短检验测试间隔、提高检验测试覆盖率等以满足定级要求;优化后的参数,不仅可以指导SIF的设计,也可为SIS系统未来的运行测试、校验和维护提供依据。

摘要： 随着基于模块化的电路设计变得越来越复杂,未初始化的时序单元、设计中的黑盒、时钟域交叉以及模数转换器的错误行为等原因会导致电路中出现未知的逻辑值(X),降低电路测试集的测试覆盖率.为了快速确定电路中X值输入对测试覆盖率的影响,提出了一种基于机器学习的方法来预测X值输入的灵敏度.首先通过拓扑算法计算电路的各项基础结构参数;然后对电路进行区域划分,提取特定的电路特征参数作为原始数据集;最后利用随机森林模型对所有电路中得到的数据集进行训练和预测.实验选择ISCAS'89和ITC'99中的部分电路作为数据集来源,与现有的预测方法相比,该方法总体预测准确率达到90.27％,提高了14.69％,大型电路预测准确率达到93.32％,提高了19.49％.实验结果表明,该方法具有更高的准确率和更好的泛化能力.

摘要： 在软件测试中,测试用例对被测软件的覆盖率,是发现软件缺陷的重要前提之一.本文采用软件工程实验方法,基于Defects4J数据集,对Evosuite和Randoop工具在不同的生成时间限制下,生成的测试用例对程序模块的覆盖率,程序分支的覆盖率等进行实验分析,发现当生成时间超过20 s时,虽然Randoop生成的测试用例多于Evosuite,但Evosuite测试用例的覆盖率明显优于Randoop.本文同时对影响覆盖率的因素进行了分析.该研究对于如何使用这两种工具生成高覆盖率的测试用例,以及对工具的改进具有参考价值.

摘要： 故障检测率FDR(fault detection rate)是可靠性研究的关键要素,对于测试环境构建、故障检测效率提升、可靠性建模和可靠性增长具有重要作用,对于提高系统可靠性与确定发布时间具有重要现实意义.首先,对基于NHPP(non-homogeneous poisson process,非齐次泊松过程)类的软件可靠性增长模型SRGM(software reliability growth mode)进行概述,给出了建模本质、功用与流程.基于此,引出可靠性建模与研究中的关键参数——FDR,给出定义,对测试环境描述能力进行分析,展示不同模型的差异.着重剖析了FDR与失效强度、冒险率(风险率)的区别,得出三者之间的关联性表述.全面梳理了FDR的大类模型,分别从测试覆盖函数视角、直接设定角度、测试工作量函数参与构成方式这3个方面进行剖析,继而提出统一的FDR相关的可靠性模型.考虑到对真实测试环境描述能力的需要,建立不完美排错框架模型,衍生出不完美排错下多个不同FDR参与的可靠性增长模型.进一步,在12个真实描述应用场景与公开发表的失效数据集上进行实验,验证不同FDR模型相关的可靠性模型效用,对差异性进行分析与讨论.结果表明,FDR模型自身的性能可以支撑可靠性模型性能的提升.最后,指出了未来研究趋势和需要解决的问题.

摘要： 从测试理论的内容来看,在实际测试的过程中不能够在短时间内发现所有的软件错误。因此,在合适的实际就需要有一个可信的方式来全面地测试任务的完成程度。即便使用同一测试技术来衡量完成度,测试过程中的覆盖率越高,则说明测试的工作会进行的越完善,软件的可信度也就越高。本文主要全面分析软件功能测试覆盖收集技术的应用内容。

摘要： 从测试理论的内容来看,在实际测试的过程中不能够在短时间内发现所有的软件错误.因此,在合适的实际就需要有一个可信的方式来全面地测试任务的完成程度.即便使用同一测试技术来衡量完成度,测试过程中的覆盖率越高,则说明测试的工作会进行的越完善,软件的可信度也就越高.本文主要全面分析软件功能测试覆盖收集技术的应用内容.

摘要： 随着制造工艺的进步和SoC功能的日益丰富,现代SoC大多会集成大量不同种类的嵌入式SRAM,三单元耦合故障对电路的影响开始加深.传统MBIST通常基于EDA工具直接实现,以检测单、双单元故障为主,无法全面覆盖三单元耦合故障,应用于现代SoC时还面临测试开销过大,测试覆盖率低等问题.通过提出一种针对三单元耦合故障,以及基于嵌入式SRAM的大小、类型、数量和版图布局的精细化MBIST优化设计方法,实现了SoC芯片面积和测试时间的平衡和优化,降低了测试成本并提升了测试覆盖率.

摘要： 在集成电路的设计和测试过程中,黑盒模块,未初始化的时序单元,时钟域交叉和A/D转换器的错误行为等情况常常会导致电路中未知值X的出现.电路中X值的传播会严重影响故障的激活和敏化,降低测试覆盖率.针对电路多个输入为X值的情况,本文提出了一种的基于极端随机树算法的测试覆盖率损失的预测方法.通过对电路进行仿真分析,区域划分,提取结构特征等步骤提取出数据集,训练出高准确率高稳定性的预测模型,达到快速分析多点X值输入下电路测试覆盖率损失的目的.实验结果表明,本文模型的平均预测准确率达到了94.47%,相比于同类方法增加21.71%.单个电路的预测结果最低为89.03%,最高为99.99%,表明了本文预测模型具有很好的稳定性.

摘要： 随着集成电路的发展,SoC(System-on-Chip)方法逐渐成为集成电路设计主流,使得大量IP核嵌入到集成系统中,并且IP核内嵌的深度仍在不断增加.在集成电路可测性设计中,提高内嵌IP核的可观察性和可控制性以提高IP核测试覆盖率并保证测试质量是IP核测试亟需解决的问题.通过改进wrapper单元,可以降低时序路径延迟开销,同时满足高速IP核的时序要求并提高测试覆盖率.实验结果表明,提出的改进方法可以将IP核测试覆盖率提高到90％以上,提高了6.58％～21.66％,而只在时序路径上增加了一个二选一选择器的时序延迟.

摘要： NHPP模型是根据故障数据对软件可靠性进行评估和预测的重要工具，但是测试覆盖率和故障检测率又是影响软件可靠性的重要因素，本文将同时引入这二个因素，建立了一个新的软件可靠性模型，探讨并给出了参数估计和拟合效果等，进行了实例验证。

摘要： 软件可靠性增长模型(SRGMs)是软件可靠性定量评估的重要手段．rn 测试覆盖率与不完美排错则是两种可有效改进软件可靠性增长模型评估性能的重要因素．本文将两种不完美排错假设与Logistic测试覆盖率函数分别引入NHPP类软件可靠性建模过程，提出两种考虑不完美排错的Logistic测试覆盖率软件可靠性模型(即ILTCS1与ILTCS2)，并将这两种新模型与14种现有软件可靠性模型(包括经典模型、测试覆盖率模型以及不完美排错模型)分别应用于三组真实失效数据集．实例验证结果表明：rn 1)ILTCS2模型在三组失效数据集上的评估结果均为最好(MSE值最小)，且显著好于多数对比模型．这表明ILTCS2模型具有优秀的评估性能及适用性；2)选择合适的“不完美排错”假设或“测试覆盖率”函数对模型评估性能的改进确实有重要影响．

摘要： 中国最近几年对高速铁路的投入和重视程度举世瞩目,列车作为高速铁路的运输载体,其质量尤为重要,控制系统中的信号控制板作为高速列车的"大脑",其可靠性直接决定了整车的安全性.由于大量采用BGA、QFP封装的FPGA、DSP芯片导致测试途径有限、测试覆盖率较低等缺点.本文提出将边界扫描技术与PXI总线标准仪器相结合的方法,对信号控制板进行有效的测试,可显著提高测试覆盖率并实现元器件级的故障诊断,同时减少测试时间.

摘要： 本文提出了一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法。该方法首先建屯FPGA的配置词典，给出基本可编程单元所有要测试的配置码;然后采用模板化的方法分析测试配置，计算测试配置对配置词典的覆盖率。实验结果表明，与故障仿真相比，本方的时间复杂度从二次减少为一次，并且能够正确评价测试配置的完备程度，报告测试配置所有可测和不可测的FPGA资源。

摘要： 本文提出了一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法。该方法首先建屯FPGA的配置词典，给出基本可编程单元所有要测试的配置码;然后采用模板化的方法分析测试配置，计算测试配置对配置词典的覆盖率。实验结果表明，与故障仿真相比，本方的时间复杂度从二次减少为一次，并且能够正确评价测试配置的完备程度，报告测试配置所有可测和不可测的FPGA资源。

摘要： 本文提出了一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法。该方法首先建屯FPGA的配置词典，给出基本可编程单元所有要测试的配置码;然后采用模板化的方法分析测试配置，计算测试配置对配置词典的覆盖率。实验结果表明，与故障仿真相比，本方的时间复杂度从二次减少为一次，并且能够正确评价测试配置的完备程度，报告测试配置所有可测和不可测的FPGA资源。

摘要： 本文提出了一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法。该方法首先建屯FPGA的配置词典，给出基本可编程单元所有要测试的配置码;然后采用模板化的方法分析测试配置，计算测试配置对配置词典的覆盖率。实验结果表明，与故障仿真相比，本方的时间复杂度从二次减少为一次，并且能够正确评价测试配置的完备程度，报告测试配置所有可测和不可测的FPGA资源。

摘要： 随着对可信软件研究的不断深入,作为重要属性之一的可靠性显得很重要.虽然已经有大量的软件可靠性模型,但每种模型都有其局限性,只能适用于一定条件.因此寻找一种固定的方法来计算软件可靠性成为了一个很重要的难题。本文针对这个问题做了大量的理论和实验研究.首先将软件可靠性模型分成三大类,并指出每种模型所应用的限制条件和不足以及如何判断可靠性模型的优劣,然后提出了一种综合的软件可靠性模型.最后,本文通过一批实验数据来说明该模型的建立过程.

摘要： 随着对可信软件研究的不断深入,作为重要属性之一的可靠性显得很重要.虽然已经有大量的软件可靠性模型,但每种模型都有其局限性,只能适用于一定条件.因此寻找一种固定的方法来计算软件可靠性成为了一个很重要的难题。本文针对这个问题做了大量的理论和实验研究.首先将软件可靠性模型分成三大类,并指出每种模型所应用的限制条件和不足以及如何判断可靠性模型的优劣,然后提出了一种综合的软件可靠性模型.最后,本文通过一批实验数据来说明该模型的建立过程.

摘要： 本发明涉及一种用于确定待测系统的测试的充分性的计算机实现的方法（100），所述方法包括如下步骤：提供（110）测试集合的、尤其是成功实施的测试集合的测试参数（q）和测试结果；针对相应测试确定（120）参数集（p），其中参数集包括相应测试对其来说是指示性的测试参数（p）；基于相应测试的参数集（p），确定（130）相应测试的所述相应测试对其来说是指示性的测试空间（S）、尤其是n维测试空间；确定（140）测试的测试空间（S）的并集是否覆盖可预先给定的总测试空间（T）、尤其是n维总测试空间。

摘要： 本发明公开了一种基于关键决策逻辑设计测试覆盖率的网络模型测试方法。处理得到训练集中每个训练图片样本在深度神经网络模型中的关键决策路径；根据训练集中所有训练图片样本的关键决策路径综合处理成深度神经网络模型的关键决策图；根据关键决策图对测试集处理获得测试覆盖率；利用测试覆盖率控制测试，获得完备性衡量测试结果。本发明基于关键决策路径与关键决策图的抽取，构建了两种测试覆盖率，在计算简单、使用效率高、存储代价小的基础上，提高了测试覆盖率的可解释性，并提升了对测试集测试覆盖率衡量的准确性。

摘要： 本发明一种基于测试对象调用标记的测试覆盖率统计方法，包括：A.提取软件的实体元素B.建立实体元素层级树C.建立实体元素调用标记数据表D.收集实体元素的调用标记数据G.将所有实体元素的调用标记数据保存在实体元素调用标记数据表中H.建立后台管理系统和测试覆盖率统计页面，提取实体元素调用标记数据进行统计，输出分析结果。本发明完整地统计整个软件包括需求、功能、程序等所有实体元素的测试覆盖率，提高其结果的准确性和结论的可参考性。

摘要： 本发明公开一种分布式系统中自动化测试覆盖率的测试方法及系统，测试方法包括：响应于测试启动命令，从源代码路径中获取编译每个应用所使用的源文件；对所述源文件进行编译得到每个应用；根据预设应用配置文件，在与每个应用对应的设备上部署每个应用；触发自动化测试启动命令，以运行关于应用的自动化测试；从每个设备中获取与每个应用相关的单体覆盖率报告，生成整体覆盖率报告。本发明通过从源代码路径获取源文件，从而自动编译应用，将应用部署于对应的设备中，并在执行自动化测试后，从每个设备获取每个应用的覆盖率报告，实现获取分布式系统应用的覆盖率。同时，也与自动化测试很好地整合，使得在自动化测试过程中能实现获取覆盖率报告。

摘要： 本公开涉及一种软件测试和统计测试覆盖率的方法、装置、设备及介质，上述软件测试的方法包括：获取差异代码，上述差异代码为目标版本软件相较于历史版本软件新增和/或修改的更新源代码；对上述差异代码进行编译和插桩，得到带有探针的可执行文件，上述探针用于记录上述可执行文件中的字节码执行程序时所经历的轨迹信息；基于预设的测试用例，对上述可执行文件进行测试，并基于上述探针记录得到测试过程中上述字节码经历的轨迹信息；以及将上述字节码经历的轨迹信息与上述更新源代码的结构进行对比分析，得到关于上述差异代码的测试覆盖率结果。

摘要： 本发明公开了一种基于关键决策逻辑设计测试覆盖率的网络模型测试方法。处理得到训练集中每个训练图片样本在深度神经网络模型中的关键决策路径；根据训练集中所有训练图片样本的关键决策路径综合处理成深度神经网络模型的关键决策图；根据关键决策图对测试集处理获得测试覆盖率；利用测试覆盖率控制测试，获得完备性衡量测试结果。本发明基于关键决策路径与关键决策图的抽取，构建了两种测试覆盖率，在计算简单、使用效率高、存储代价小的基础上，提高了测试覆盖率的可解释性，并提升了对测试集测试覆盖率衡量的准确性。

摘要： 本申请涉及一种用于提高SoC设计中测试覆盖率的方法及测试电路，其中该测试电路包括：模拟模块；多个漏型逻辑模块，多个漏型逻辑模块的输出端与模拟模块的输入端电连接；异或模块，异或模块分别与多个漏型逻辑模块的输出端电连接；DFF电路，DFF电路的输入端与异或模块的输出端电连接；多个MUX电路，多个MUX电路的B端分别与DFF电路的输出端电连接，多个MUX电路的A端分别与模拟模块的输出端电连接；多个源型逻辑模块，多个源型逻辑模块分别与多个MUX电路的输出端电连接。本发明实现了提高测试覆盖率、提高测试效率，并达到了降低芯片量产的成本，提高产品的市场竞争力的目的。

摘要： 本发明公开了一种提高安卓应用测试覆盖率的测试用例分解组合方法，包含如下步骤：一、给定被测安卓应用，使用自动生成或人工提供的方式为被测应用生成初始测试用例，发送这些初始测试用例到被测应用，记录其执行轨迹，根据执行轨迹建立被测应用的状态自动机；二、将初始测试用例分解为执行应用单个功能的子用例；三、分析子用例间的关系，组合成执行被测应用复杂功能的复合测试用例；四、向被测应用发送生成的复合测试用例，根据其执行轨迹决定是否返回步骤一迭代执行。本发明能够自动生成有效复合测试用例以测试被测安卓应用的复杂功能，提高安卓应用测试覆盖率。

摘要： 本发明一种基于测试对象调用标记的测试覆盖率统计方法，包括：A.提取软件的实体元素B.建立实体元素层级树C.建立实体元素调用标记数据表D.收集实体元素的调用标记数据G.将所有实体元素的调用标记数据保存在实体元素调用标记数据表中H.建立后台管理系统和测试覆盖率统计页面，提取实体元素调用标记数据进行统计，输出分析结果。本发明完整地统计整个软件包括需求、功能、程序等所有实体元素的测试覆盖率，提高其结果的准确性和结论的可参考性。

摘要： 本发明公开一种依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法，其通过依据测试粒度产生存储器定址序列后，将所产生的存储器定址序列转换为相对应的物理地址，并依据所产生的物理地址对存储器的全部或部分进行测试的技术手段，可以有效控制存储器的测试覆盖率，并达成提高存储器测试效率的技术功效。