防呆技术在集成电路多工位测试中的应用

李琦; 郭昌宏; 李习周; 张易勒

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防呆技术在集成电路多工位测试中的应用

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在集成电路生产测试中,往往会采取多工位测试方法,该方法会显著提高测试的效率,提高产出量;但是,多工位测试方法存在一定的生产隐患,有时会带来严重的生产事故,导致大量的产品返工.为解决这一问题,在多工位测试中,分别从软件和硬件上提出了防呆技术,降低了采用多工位测试时多个测试工位连接的错误,提高了生产效率.

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来源
《电子工业专用设备》 |2018年第3期|59-63|共5页
作者
李琦; 郭昌宏; 李习周; 张易勒;
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作者单位

天水华天科技股份有限公司,甘肃天水 741000;

天水华天科技股份有限公司,甘肃天水 741000;

天水华天科技股份有限公司,甘肃天水 741000;

天水华天科技股份有限公司,甘肃天水 741000;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
测试; 多工位; 防呆技术;

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