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潘栋梁; 熊胜明; 张云洞; 王任华;
中科院光电技术研究所成都双流350信箱 610209;
薄膜; 均匀性; 计算;
机译:超薄氧化硅膜的原子能级膜厚均匀性和可靠性
机译:一种改善多晶Ni衬底合成的纳米厚石墨膜均匀性的方法:从大谷物到小谷物
机译:物理气相沉积膜厚均匀性的仿真与优化
机译:具有行星夹具的沉积系统的涂层厚度均匀性荫罩的设计方法
机译:使用PVD两步氮化钛阻挡层工艺的优势,以及由于钨膜的不均匀性,钨膜沉积产生的残留副产物对工艺集成的影响。
机译:锥形束梁计算断层扫描的上颌窦膜增厚与相邻牙齿健康的关系评估
机译:一种最大膜厚均匀性实验参数优化算法
机译:高速滚动和滑动触头弹性流体动力学膜厚的计算
机译:膜厚计算方法,膜厚计算程序以及膜厚计算装置
机译:膜厚评估方法,膜厚评估装置,半导体制造装置,半导体装置以及用于使计算机实现膜厚评估功能的计算机可读存储介质记录程序
机译:膜厚均匀性的评价方法和装置以及膜厚自动控制方法和装置
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