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基于多IP核复用SoC芯片的可靠性研究

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摘要

多IP核复用技术在SoC芯片设计中得到广泛应用,一方面带来设计效率的提高,另一方面由于各类IP核质量参差不齐也造成SoC芯片可靠性的降低,本文着重从微处理器可靠性、IP核通信可靠性、IP核状态检测等方面对多IP复用SoC的可靠性进行了研究.

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来源
《信息技术与信息化》 |2007年第6期|52-54|共3页
作者
于治楼; 施慧彬; 计华;
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作者单位

浪潮集团有限公司;

250013;

浪潮集团有限公司;

250013;

山东师范大学计算机系;

250014;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计算技术、计算机技术;
关键词
IP; SoC; 可靠性; 三模冗余; 内置自检测;

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