磁光盘可靠性及寿命评估方法研究

著录项

• 来源
  《应用光学》 |2002年第3期|14-1722|共5页
• 作者

  杨成韬; 张鹰; 高正平; 李言荣;

  展开▼
• 作者单位

  电子科技大学光电记录技术中心;

  四川成都610054;

  电子科技大学光电记录技术中心;

  四川成都610054;

  电子科技大学光电记录技术中心;

  四川成都610054;

  电子科技大学光电记录技术中心;

  四川成都610054;

  展开▼
• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 O482.55-34;
• 关键词

  磁光盘; 可靠性; 威布尔分布; 寿命; 加速应力;