一种基于最优化模型的数字电路测试生成方法

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• 来源
  《应用科学学报》 |1999年第2期|211-215|共5页
• 作者

  潘中良; 张光昭; 陈光(礻禹);

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• 作者单位

  广州中山大学;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 TN790.7;
• 关键词

  数字电路; 测试生成; 最优化; 模拟退火; 梯度算法;