某引信电路的可靠性预计和贮存寿命分析

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• 来源
  《探测与控制学报》 |1999年第3期|30-34|共5页
• 作者

  李长福; 夏建中; 杨毅;

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• 作者单位

  北京2418信箱28分箱,北京,100089;

  北京2418信箱28分箱,北京,100089;

  西安121信箱,陕西,西安,710065;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 弹药、引信、火工品;
• 关键词

  引信; 电路; 可靠性; 寿命;