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利用泄漏瑞利波成像检测陶瓷表面缺陷

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介绍了利用泄漏瑞利波成像检测陶瓷表面缺陷的方法，并通过实例讨论了采用高频聚集探头激励泄漏瑞利波的特性以及泄漏瑞利波成像的规律。

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来源
《材料工程》 |1996年第10期|32|共1页
作者
史亦韦;
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作者单位

北京航空材料研究院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TQ174.12;
关键词
超声检测; 陶瓷; 表面缺陷; 泄漏瑞利波;

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