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SiC晶须形貌质量检测标准

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本文首次提出碳化硅晶须的形貌质量检测标准，该标准包括晶须的长度，直径，长径比及晶须的表面光洁率，晶须直晶率，晶须中颗粒物含量几个方面的检测，并已在１９９３年２月被国家“８６３”高技术结构材料专家组认定，做为我国ＳｉＣ晶须产品形貌质量的检测标准。

著录项

来源
《材料工程》 |1994年第2期|48|共1页
作者
徐桦; 郭梦熊;
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作者单位

不详;

不详;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类金属和非金属复合材料;
关键词
碳化硅; 晶须; 形貌; 质量检测;

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