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STM研究光盘材料结构转变前后表面形貌的分形维数

         

摘要

采用STM在纳米尺度上对光盘材料结构转变前后表面微观形貌进行了研究,STM结合图象处理和傅利叶分析法可以较好地用于研究薄膜表面形貌的分形特征,用电子束蒸发制备的无定形态记录介质薄膜表面形貌在纳米尺度上呈现出分形特征,经加热晶化后介质薄膜发生结构转变,表面形貌的分形维数增加。

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