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王耀冬; 宣兆龙; 朱宏; 俞卫博; 李翰朋;
解放军军械工程学院,石家庄050003;
西安现代控制技术研究所,西安710065;
破坏性测量; 非破坏性测量; 电火工品; Wiener过程; 剩余寿命;
机译:对洋葱叶片的非破坏性测量和遗传分析的非破坏性测量和遗传分析的反射光谱
机译:通过图像信息(第3部分):非破坏性生长测量模型的实用性的白菜塞幼苗种群的非破坏性生长测量
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