正负交替一维掺杂光子晶体缺陷模的特性

胡莉; 刘启能

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正负交替一维掺杂光子晶体缺陷模的特性

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利用光学特征矩阵方法,研究了在正负折射率交替一维光子晶体中掺入正折射率介质后缺陷模的相关特性.结果表明:当杂质层的光学厚度不变时,随着杂质层折射率的增加,缺陷模的半高宽度随之增加,分布在禁带中心两侧的缺陷模分别向临近的透射谱方向移动,并与透射谱形成连续的透射带;随着折射率的增加,透射带的透射率逐渐增加,其半高宽度逐渐减小;而当杂质层折射率不变时,随着杂质层的光学厚度增加,缺陷模向长波方向平移,同时缺陷模的个数也随之增加,而由缺陷模和透射谱连成的透射带的带宽逐渐减小.

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来源
《激光与红外》 |2009年第7期|765-768|共4页
作者
胡莉; 刘启能;
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作者单位

重庆工商大学计算机科学与信息工程学院,重庆,400067;

重庆工商大学计算机科学与信息工程学院,重庆,400067;

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正文语种 chi
中图分类晶体缺陷;
关键词
光子晶体; 负折射率材料; 缺陷模;

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