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Si3N4微尺度薄膜比热特性测量研究

         

摘要

比热是Si3N4薄膜重要的热学参数之一,Si3N4薄膜比热特性研究对热传原理传感器研究和发展以及物质微尺度热学特性的研究有重要的意义.本研究设计并制作出一种悬膜结构,从理论上分析了此结构的传热机理,并通过实验测得Si3N4薄膜的比热,最后分析了此测量系统存在的误差及解决方法.

著录项

  • 来源
    《测控技术》 |2004年第3期|5-69|共3页
  • 作者单位

    中国科学院,电子学研究所,传感技术国家重点实验室,100080;

    中国科学院,电子学研究所,传感技术国家重点实验室,100080;

    中国科学院,电子学研究所,传感技术国家重点实验室,100080;

    中国科学院,电子学研究所,传感技术国家重点实验室,100080;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 薄膜的性质;
  • 关键词

    比热; 悬膜; 温度系数;

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