电子元器件老炼试验技术

高成; 张栋; 王香芬

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老炼是对电子元器件施加应力,剔除有缺陷的元器件的过程.长时间的老炼会对一些原本健康的器件寿命产生影响,但是时间过短却又不能起到很好地剔除有缺陷的元器件的目的.在相关文章的基础上总结了哪类电子元器件适合进行老炼,以及元器件老炼时间的优化问题,提出电子元器件老炼的3个准则,电子元器件最优老炼时间的确定问题,以及元器件老炼发展方向.

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来源
《现代电子技术》 |2008年第16期|189-191|共3页
作者
高成; 张栋; 王香芬;
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作者单位

北京航空航天大学,北京,100083;

北京航空航天大学,北京,100083;

北京航空航天大学,北京,100083;

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正文语种 chi
中图分类有机半导体;
关键词
老炼; 元器件; 最优化; 最优老炼时间;

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