退火温度对CsI薄膜闪烁特性的影响

著录项

• 来源
  《核技术》 |2008年第1期|15-18|共4页
• 作者

  程峰; 钟玉荣; 王宝义; 王天民; 魏龙;

  展开▼
• 作者单位

  兰州大学物理科学与技术学院,兰州,730000;

  中国科学院高能物理研究所,北京,100049;

  中国科学院高能物理研究所,北京,100049;

  中国科学院高能物理研究所,北京,100049;

  北京航空航天大学理学院,北京,100083;

  中国科学院高能物理研究所,北京,100049;

  展开▼
• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 薄膜的性质;闪烁探测技术和仪器;
• 关键词

  CsI薄膜; 热蒸发; 闪烁性能;