陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究

王广甫; 鲁永芳

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陶瓷样品外束质子荧光定量分析中样品定位精度的研究

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通过改变与陶瓷有相似成份的GBW07306水系沉积物标准样品的前后位置和角度,研究了陶瓷样品外束质子荧光(External beam proton induced X-ray emission,外束PIXE)分析中样品位置对测量结果的影响.并以此为依据分析了陶瓷样品外束PIXE定量分析对样品定位精度的要求.结果表明:在质子能量为2.5MeV、样品距离质子引出窗口12mm和质子束入射方向夹角为30°、Si(Li)探测器在80°且距离样品20mm的实验条件下,沿束流方向位置变化引起的相对误差控制在5%以内时,样品定位精确度应高于±0.14mm;样品与质子束夹角变化引起的相对误差控制在5%以内时,样品角度定位需精确到±1.2°.

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来源
《核技术》 |2007年第5期|432-437|共6页
作者
王广甫; 鲁永芳;
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作者单位

北京师范大学分析测试中心,北京,100875;

北京师范大学低能核物理研究所,北京,100875;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类加速器;
关键词
外束质子荧光分析; GBW07306水系沉积物标准参考样; 位置; 误差;

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