首页> 中文期刊> 《光学仪器》 >直径6英寸半绝缘砷化镓单晶生长技术通过专家鉴定

直径6英寸半绝缘砷化镓单晶生长技术通过专家鉴定

         

摘要

由中国科学院半导体研究所和北京中科镓英半导体有限公司共同承担的“863项目”——直径6英寸半绝缘砷化镓单晶生长技术研究成果,不久前通过了专家鉴定。鉴定委员会认为,该项目研制出的晶体技术指标均达到同期国内领先、国际先进水平,并且晶片加工技术指标也达到了国际先进水平。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号