首页> 中文期刊> 《光学精密工程》 >窄光谱带宽X射线刻蚀多层膜光栅

窄光谱带宽X射线刻蚀多层膜光栅

         

摘要

结合X射线荧光分析和同步辐射单色器对窄光谱带宽多层膜的需求,开展了窄光谱带宽刻蚀多层膜光栅的理论和实验研究.用平均密度法从理论上阐明将多层膜刻蚀成不同刻蚀比的多层膜光栅后,光谱分辨率将得到提高.用磁控溅射方法制备了W/C多层膜,并用常规的光刻工艺对其进行刻蚀,得到了刻蚀后的多层膜光栅.掠入射X射线衍射测量表明,刻蚀后多层膜的衍射峰位置向小角方向移动,多层膜光栅没有改变剩余多层膜的结构,而且带宽减小,光谱分辨率得到提高,说明实验采用的工艺方法和工艺路线可以满足制作窄光谱带宽刻蚀多层膜光栅的要求.

著录项

  • 来源
    《光学精密工程》 |2004年第2期|226-230|共5页
  • 作者单位

    同济大学,精密光学工程技术研究所物理系,上海,200092;

    同济大学,精密光学工程技术研究所物理系,上海,200092;

    同济大学,精密光学工程技术研究所物理系,上海,200092;

    同济大学,精密光学工程技术研究所物理系,上海,200092;

    同济大学,精密光学工程技术研究所物理系,上海,200092;

    同济大学,精密光学工程技术研究所物理系,上海,200092;

    同济大学,精密光学工程技术研究所物理系,上海,200092;

    中国科技大学,同步辐射国家重点实验室,安徽,合肥,230029;

    中国科技大学,同步辐射国家重点实验室,安徽,合肥,230029;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 薄膜技术;
  • 关键词

    多层膜; 光栅; 带宽; 刻蚀; 光谱分辨率; 刻蚀比;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号