无相位去包裹的微分法三维形貌测量

周灿林; 司书春; 李辉; 雷振坤

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无相位去包裹的微分法三维形貌测量

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提出了一种无需相位去包裹的微分算法,应用于投影栅三维形貌测量。首先由计算机设计并生成4幅四步相移正弦条纹图,利用DLP投影仪将其投影到待测物体上;然后由CCD相机采集受待测物体面型调制的变形光栅条纹图。再利用4幅四步相移变形条纹图,经数值运算求得沿水平和垂直方向上待测物体相位的偏导数,而相位偏导数的积分过程相当于求解泊松方程,于是利用离散余弦变换(DCT)求解泊松方程就可得到待测物体三维形貌对应的相位数据,从而重构待测物体的三维形貌。测量结果表明,相位解调的标准差小于0.0317rad,验证了本文方法的有效性。

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来源
《光电子．激光》 |2015年第8期|1549-1552|共4页
作者
周灿林; 司书春; 李辉; 雷振坤;
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作者单位

山东大学物理学院;

山东济南250100;

大连理工大学工程力学系;

辽宁大连116024;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类实验应力分析;光学;
关键词
相位测量轮廓术(PMP); 相移法; 相位去包裹; 线积分; 泊松方程; 偏导数;

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