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CPCA; SHOW; 系统; 一代; 展示; 设备制造商; ca公司; 印刷电路板; 测试仪; 测试方案;
机译:Seica德国/ Wuerth Electronics飞针交货
机译:TITECH将在“ Ifat Ensorga 2012”上展示其新一代废物分类系统
机译:Sun Chemical将在CPCA展示印刷电路,印刷电子解决方案组合
机译:将在AHS会议上展示具有粗糙性的直升机传动齿轮表面的综合,基于物理的润滑分析方法
机译:测针测量的表面粗糙度与基于电容的系统之间的关系的研究
机译:用于运动捕捉系统的新一代可穿戴式测角仪
机译:科学论文将在2017年3月22日至26日至2月22日至26日的第六十五年度年度会议上展示了2017年3月22日印度威斯印度威尔斯,加利福尼亚州
机译:NBs用于表面粗糙度测量的测针/计算机系统的评估,修订和应用:小型机软件。
机译:双测针图表记录器-与磁性设备一起操作,允许测针跨越,并在第二个测针上方抬起第一个测针
机译:用于尖端和/或倒角飞刺工件,特别是测针或书写盒的装置
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