有关X射线测厚仪技术的研究

靳其兵; 吴磊

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对西门子PLC(可编程控制器)在薄膜测厚仪上的应用进行了研究,并比较了传统的以工控机为核心的电控系统与以PLC为电控核心的系统的优缺点.详细介绍了测厚仪电控系统的组成和原理,同时对测厚数据的处理方法进行了说明.实践表明,该系统控制结构简单, 有较高的运行效率和可靠性.整套装置已成功运行在聚丙烯双向拉伸薄膜生产线上.

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来源
《自动化仪表》 |2007年第1期|65-66,70|共3页
作者
靳其兵; 吴磊;
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作者单位

北京化工大学自动化研究所,北京,100029;

北京化工大学自动化研究所,北京,100029;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类自动控制、自动控制系统;
关键词
可编程控制器; 测厚仪; 数据处理;

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