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IC芯片引线框架亚像素边缘提取研究

         

摘要

针对芯片引线框架精确定位,提出一种芯片引线框架的改进型亚像素边缘提取方法.该方法利用Zernike正交矩的最小二乘椭圆拟合亚像素定位方法,对芯片引线框架进行边缘提取.通过构建的芯片自动视觉运动平台,进行相关实验.结果表明,芯片引线框架定位精度小于0.6像素,满足芯片封装应用要求.

著录项

  • 来源
    《软件导刊》 |2015年第9期|158-160|共3页
  • 作者单位

    武汉工程大学计算机科学与工程学院;

    湖北武汉430205;

    武汉工程大学计算机科学与工程学院;

    湖北武汉430205;

    武汉工程大学计算机科学与工程学院;

    湖北武汉430205;

    武汉工程大学计算机科学与工程学院;

    湖北武汉430205;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 图像处理软件;
  • 关键词

    Zernike矩; 亚像素; 芯片封装;

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