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首页> 美国卫生研究院文献>Sensors (Basel Switzerland) >Parallel Detection of Refractive Index Changes in a Porous Silicon Microarray Based on Digital Images
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Parallel Detection of Refractive Index Changes in a Porous Silicon Microarray Based on Digital Images

机译：基于数字图像的多孔硅微阵列折射率变化的并行检测

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A new technique for the refractive index change with high-sensitivity measurements was proposed by the digital image of porous silicon (PSi) microarray utilization in this paper. Under the irradiation of a He-Ne laser, the surface images of the PSi array cells with the microcavity structure were obtained by the digital imaging equipment, whereas the refractive index change of each array cells was detected by calculating the average gray value of the image and the refractive index change measurement sensitivity was 10−4 order of magnitude. This technique could be utilized in the label-free and parallel detection of refraction index changes induced by a biological reaction in the microarray or the chip.
机译：本文利用多孔硅（PSi）微阵列的数字图像，提出了一种高灵敏度测量折射率变化的新技术。在氦氖激光的照射下，通过数字成像设备获得具有微腔结构的PSi阵列单元的表面图像，而通过计算图像的平均灰度值来检测每个阵列单元的折射率变化折射率变化测量灵敏度为10 −4 数量级。该技术可用于无标记和并行检测由微阵列或芯片中的生物反应引起的折射率变化。

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