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【24h】

High quality GaN grown on silicon(111) using a Si_xN_y interlayer by metal-organic vapor phase epitaxy

机译:通过金属有机气相外延使用Si_xN_y中间层在硅(111)上生长高质量的GaN

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摘要

High quality GaN layers with dislocation density of (3.0 ± 0.5) × 10~8/cm~2 have been grown on silicon(111) substrates using a combination of AlGaN intermediate layers and a Si_xN_y interlayer. A smooth and fully coalesced layer was obtained by virtue of
机译:使用AlGaN中间层和Si_xN_y中间层的组合,在硅(111)衬底上生长了位错密度为(3.0±0.5)×10〜8 / cm〜2的高质量GaN层。通过以下方法获得了光滑且完全聚结的层:

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