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Untersuchungen zur Zeitabhängigkeit der Störfestigkeit von elektronischen Geräten gegenüber pulsförmigen Störbeanspruchungen

机译:电子设备抗脉冲干扰的时间依赖性研究

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摘要

Die Untersuchungsergebnisse zeigen, daß die Störfestigkeit von mikrorechner-gesteuerten Geräten gegenüber pulsförmigen Störgrößen von den internen Funktionsabläufen abhängig sein kann. Es wurde dargestellt, daß in einem Störfestigkeitsnachweis an Geräten mit unterschiedlich störempfindlichen Phasen nur mittlere Werte für eine Störfestigkeit bestimmt werden können, die zudem von der Verteilung der Prüfimpulse auf dierneinzelnen Phasen abhängig sind. Auch bei der Anwendung gültiger Standards kann in einem Nachweis somit EMV vorgetäuscht werden, was besonders für sicherheitsrelevante Geräte und Anlagen unzulässig ist. Für diese Geräte ist nach speziellen Prüfverfahren zu suchen, wobei erste Ansätze in [3] dargelegt sind.
机译:研究结果表明,微机控制设备对脉冲状干扰的抵抗力可能取决于内部功能过程。结果表明,在具有不同敏感相位的设备上进行的抗扰度测试中,只能确定抗扰度的平均值,这也取决于测试脉冲在各个相位上的分布。即使使用有效的标准,EMC也会在证书中被伪造,这对于与安全相关的设备和系统尤其不允许。对于这些设备,将搜索特殊的测试方法,第一种方法在[3]中列出。

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  • 来源
    《Elektrie》 |2012年第132期|p.14-18|共5页
  • 作者

    R. Vick;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ger
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