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机译:使用荧光光谱法评估金纳米粒子和腐殖质的聚集
Department of Chemical Engineering, Tennessee Technological University Cookeville, Tennessee 38505 Center for the Management, Utilization, and Protection of Water Resources, Tennessee Technological University Cookeville,Tennessee 38505;
Department of Chemical Engineering, Tennessee Technological University Cookeville, Tennessee 38505;
Center for the Management, Utilization, and Protection of Water Resources, Tennessee Technological University Cookeville,Tennessee 38505 Department of Chemistry, Tennessee Technological University Cookeville, Tennessee 38505;
机译:在臭氧化之前和之后使用几种荧光技术对腐殖质进行全面的结构评估。第一部分:腐殖质的结构表征
机译:超声光谱法和分形分析法研究腐殖质在稀释溶液中的逐步聚集
机译:超声光谱法和分形分析法研究腐殖质在稀释溶液中的逐步聚集
机译:在光谱法揭示的腐殖质物质存在下金纳米颗粒的生长
机译:使用总发光光谱和毛细管电泳以及荧光寿命检测来表征腐殖质。
机译:硅胶涂层金纳米粒子中金属增强荧光的无伪像评估
机译:用荧光光谱与平行因子分析和规范相关分析结合自然卤素土壤的腐殖质物质
机译:荧光猝灭法研究腐殖质的静电性能