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【24h】

Zinc-Blende Structure of CrTe Epilayers Grown on GaAs

机译:GaAs上生长的CrTe外延层的Zn-Blende结构

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摘要

We report the synthesis of zinc-blende CrTe (zb–CrTe) as highly oriented crystalline grains in films of 100-nm thickness. The structural properties of the film were characterized using high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) and selective-area electron diffraction (SAED). Temperature-dependent magnetization measurements show that the Curie temperature of the film is$sim$327 K. Angular M–H measurements indicate that the CrTe films have an in-plane easy axis of magnetization along the$[0bar 1 1]$direction of GaAs.
机译:我们报道了在100 nm厚度的薄膜中作为高取向晶粒的混合型ZnTe CrTe(zb–CrTe)的合成。使用高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)和选择性区域电子衍射(SAED)对薄膜的结构性能进行了表征。随温度变化的磁化强度测量结果表明,薄膜的居里温度为sim $ 327K。MH角测量表明,CrTe薄膜沿GaAs的[0bar 1 1] $方向具有平面内易磁化轴。 。

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