Stacked Gated Twin-Bit (SGTB) SONOS Memory Device for High-Density Flash Memory

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• 来源
  《Nanotechnology, IEEE Transactions on》 |2012年第2期|p.307-313|共7页
• 作者

  Shim W. B.; Cho S.; Lee J. H.; Li D. H.; Kim D.-H.; Lee G. S.; Kim Y.; Park S. H.; Kim W.; Choi J.; Park B.-G.;

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• 作者单位

  Inter-university Semiconductor Research Center (ISRC) and School of Electrical Engineering and Computer Science, Seoul National University, Seoul, Korea;

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• 收录信息
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  3-D NAND flash memory; Cut-off gate; SONOS; stacked gated twin-bit (SGTB); vertical channel;

  机译：3-D NAND闪存;截止门;SONOS;堆叠门控双位（SGTB）;垂直通道;