...
机译:透射电子显微镜定量检测生长在Si(001)上的间隙薄膜中的反相无序的方法
Materials Science Center and Department of Physics, Philipps University Marburg, Hans Meerwein Str., 35032 Marburg, Germany;
a1. crystal structure; a1. transmission electron microscopy; a1. defects; a3. metalorganic vapor phase epitaxy; b2. semiconducting Ⅲ-Ⅴ materials; b2. semiconducting silicon;
机译:透射电子显微镜研究GaAs(001)上生长的CO_2FeSi薄膜的原子有序化和层间扩散
机译:通过透射电子显微镜直接观察在Si(001)上生长的GaSb薄膜异质外延中的反相边界
机译:通过透射电子显微镜直接观察在Si(001)上生长的GaSb薄膜异质外延中的反相边界
机译:(001)Laalo_3(001)LAALO_3(BA,SR)TiO_3的PLD生长外延薄膜中位错子结构的透射电子显微镜研究
机译:在各种基板上生长的氧化镧锰和镧锶锶锰薄膜的透射电子显微镜研究。
机译:(001)-和(111)-SrTiO3衬底上生长的多铁性LaFeO3-YMnO3多层膜的显微结构表征
机译:高分辨率扫描透射电子显微镜通过高分辨率扫描纤维素薄膜对钴铁氧体薄膜反相域边界的研究