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机译:用于功率调节应用的氮化镓HEMT共源共栅开关的性能表征
Dept of Mechanical Eng., National Chiao-Tung University, 1001 University Road, Hsinchu 300, Taiwan, ROC;
Dept of Mechanical Eng., National Chiao-Tung University, 1001 University Road, Hsinchu 300, Taiwan, ROC;
GaN cascode; HEMT; DC-DC conversion; High voltage; Power semiconductor device;
机译:用于大功率开关应用的级联Paralleled-GaN-HEMT封装的热性能评估
机译:使用氮化镓共源共栅开关器件降低功率转换器/逆变器的共模电磁干扰
机译:低温条件下氮化镓和碳化硅MOSFET作为电力开关应用的比较研究
机译:氮化镓HEMT和硅功率MOSFET的开关性能比较
机译:高功率应用的氮化铝镓/氮化镓HEMT:晶体管设计问题和工艺开发。
机译:具有厚铜金属化特性的氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管用于Ka波段应用的功率密度为8.2 W / mm
机译:基于氮化镓MIS-HEMT CASCODE器件的可靠性表征,用于电力电子应用
机译:氮化硅钝化层变化对电子辐照氮化铝镓/氮化镓HEmT结构的影响