...
首页> 外文期刊>IEEE microwave and wireless components letters >A Deembedding Method for the S-Parameter Extraction of Surface-Mounted Devices With Asymmetric Fixtures
【24h】

A Deembedding Method for the S-Parameter Extraction of Surface-Mounted Devices With Asymmetric Fixtures

机译:具有不对称夹具表面安装装置的S参数提取的解除方法

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

This letter presents a deembedding method for the S-parameter extraction of surface-mounted devices (SMDs) with asymmetric fixtures. The proposed method can remove the effects of asymmetric fixtures on the SMDs. It extracts the unknown S-parameters of the fixtures and SMD by combining frequency and time domains S-parameters. The accuracy of the proposed method is compared to that of the traditional 2X-thru deembedding method. The advantage of the proposed method is that it can reduce the testing time for asymmetric fixtures. Numerical examples and measurement are carried out for the validation of the proposed deembedding method.
机译:这封信呈现了具有不对称夹具的表面安装装置(SMD)的S参数提取的解除方法。所提出的方法可以消除不对称夹具对SMDS的影响。它通过组合频率和时间域S参数来提取固定装置和SMD的未知S参数。将所提出的方法的准确性与传统的2X-Thru Deembedding方法进行比较。所提出的方法的优点是它可以减少不对称夹具的测试时间。对提出的解贴方法进行验证进行了数值示例和测量。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号