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Spectrally resolved thermoluminescence and the surface fitting analysis. An application to LiF:Mg,Cu,P

机译：光谱解析热发光和表面拟合分析。应用于LiF：Mg，Cu，P

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Typical analysis of thermoluminescence (TL) data is based on various curve fitting algorithms. This approach is generally not suitable for advanced TL measurements utilizing simultaneous detection of wavelength and intensity of the emitted light. This paper presents a new 'surface fitting' algorithm making use of all measured points on the spectrally resolved TL surface. This technique allows simultaneous determination of activation energies and the emission bands of the material under study. Using the algorithm for unrestricted peak positions it is possible e.g. to distinguish between bulk and localized transitions. This approach is applied to high-sensitive LiF:Mg,Cu,P TL detector.
机译：热发光（TL）数据的典型分析基于各种曲线拟合算法。这种方法通常不适用于同时检测发射光的波长和强度的高级TL测量。本文提出了一种新的“表面拟合”算法，该算法利用了光谱解析的TL表面上的所有测量点。该技术允许同时确定被研究材料的活化能和发射带。将算法用于不受限制的峰位置，例如区分批量转换和局部转换。该方法适用于高灵敏度的LiF：Mg，Cu，P TL检测器。

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