Surface morphology and characterization of thin graphene films on SiC vicinal substrate

著录项

• 来源
  《Physical review》 |2009年第4期|033408.1-033408.4|共4页
• 作者

  J. Penuelas; A. Ouerghi; D. Lucot; C. David; J. Gierak; H. Estrade-Szwarckopf; C. Andreazza-Vignolle;

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• 作者单位

  Centre de Recherche sur la Matiere Divisee, UMR 6619, Universite d'Orleans-CNRS, 1 bis, rue de la Ferollerie, 45071 Orleans Cedex, France;

  Laboratoire de Photonique et Nanostructure-CNRS, Route de Nozay, 91460 Marcoussis, France;

  Laboratoire de Photonique et Nanostructure-CNRS, Route de Nozay, 91460 Marcoussis, France;

  Laboratoire de Photonique et Nanostructure-CNRS, Route de Nozay, 91460 Marcoussis, France;

  Laboratoire de Photonique et Nanostructure-CNRS, Route de Nozay, 91460 Marcoussis, France;

  Centre de Recherche sur la Matiere Divisee, UMR 6619, Universite d'Orleans-CNRS, 1 bis, rue de la Ferollerie, 45071 Orleans Cedex, France;

  Centre de Recherche sur la Matiere Divisee, UMR 6619, Universite d'Orleans-CNRS, 1 bis, rue de la Ferollerie, 45071 Orleans Cedex, France;

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• 收录信息
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  atomic force microscopy (AFM); photoemission and photoelectron spectra;

  机译：原子力显微镜（AFM）;光发射和光电子能谱;