• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>电波新闻 >アンリツ組込み型波長掃引光源膜厚や形状高精度で測定
【24h】

アンリツ組込み型波長掃引光源膜厚や形状高精度で測定

机译：测量厚度的Anritsu内置波长扫描光源膜厚度和形状高精度

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

アンリツは、組み込みタイプで小型のセンシング用光源として、1550ナノメートル帯波長掃引光源をこのほど発売した。波長掃引光源は波長を連続的に変化させたレーザー光を発生させる光源。産業用のOCT(光干渉断層計)装置や薄膜の膜厚計測装置に組み込hで使用できる。
机译：Anritsu将1550纳米带波长扫描光源释放为具有嵌入式的小型传感光源。 波长扫描光源是产生激光连续改变波长的光源。 工业OCT（光学相干断层扫描）装置和薄膜厚度测量装置可用于H合并H.

著录项

  • 来源
    《电波新闻》 |2021年第18212期|5-5|共1页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号