首页> 外文期刊>电波新闻 >マスク欠陥検査装置低価格でダウンタイム短く量産用に設計
【24h】

マスク欠陥検査装置低価格でダウンタイム短く量産用に設計

机译:掩模缺陷检查系统专为批量生产而设计,成本低,停机时间短

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

【ソウル支局】半導体 マスク欠陥検査装置を手 がけるレーザーテック (横浜市港北区)。世界 の半導体市場の回復基調 が強まる中、同社は差別 化を図った製品にフォー カスし、市場の上昇期に 備える。レーザー光源を 用いた「Matrix X810」シリーズは高 感度、ダウン タイムの短 さ、高スループヅトを特 徴とし、3Dフォトマス クパターン検査アプリケ ーシヨンで実績がある。
机译:[首尔分公司] Lasertec(横滨市立北区),处理半导体掩模缺陷检查设备。随着全球半导体市场的持续复苏,该公司将专注于差异化产品以为不断增长的市场做准备。使用激光光源的“ Matrix X810”系列具有高灵敏度,短停机时间和高通量的特点,并且在3D光掩模图案检查应用中具有良好的记录。

著录项

  • 来源
    《电波新闻》 |2017年第17109期|2-2|共1页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号