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【24h】

Transient processes in a Ge/Si hetero-nanocrystal p-channel memory

机译:Ge / Si异质纳米p沟道存储器中的瞬态过程

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摘要

Transient processes of Ge/Si hetero-nanocrystal floating gate memories are simulated numerically. Compared with Si nanocrystal memories, Ge/Si hetero-nanocrystal memories show similar writing and erasing efficiency with a weaker writing saturation and markedly improved retention characteristics.
机译:数值模拟了Ge / Si异质纳米晶体浮栅存储器的瞬态过程。与Si纳米晶体存储器相比,Ge / Si异质纳米晶体存储器显示出相似的写入和擦除效率,且写入饱和度较弱,并且保留特性显着提高。

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