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【24h】

Décomposition des pics XPS à composantes multiples

机译:多组分XPS峰的分解

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摘要

La puissance des calculateurs disponible aujourd'hui dans les laboratoires d'analyse a rendu commune l'utilisation de méthodes de traitements de données qui apparaissaient sophistiquées il y a dix ans. Dans la spectrométrie de photoélectrons (XPS), la décomposition des pics d'un spectre haute-résolution en composantes élémentaires (le "peak fitting" des anglo-saxons) est devenue une opération courante et même assez systématique. Cette opération dont le nom est trompeur consiste en fait à combiner linéairement plusieurs fonctions analytiques représentant chaque composante, de façon à reconstituer le plus exactement possible les parties du spectre expérimental constituant les pics et dans lesquelles se trouvent les informations chimiques. Dans le passé cette opération a pu paraître assez subjective dans les nombreux cas ou les composantes ne sont pas clairement séparées. Avec les progrès effectués dans le domaine de l'instrumentation (Sources X monochromatiques, sensibilité et résolution accrues des analyseurs), dans la modélisation des pertes électroniques et des fonds continus (Travaux de S. Tougaard) et les résultats expérimentaux accumulés sur de nombreux types de matériaux (Bases de données), on peut penser que la situation se soit améliorée. Ce texte essaie de faire le point sur le sujet plutôt du point de vue pratique d'un laboratoire utilisateur de la technique XPS pour la caractérisation des surfaces des matériaux solides.%Thanks to the great increase in computer power over the last ten years, sophisticated methods for surface data analysis have been developed. Among them, curve fitting of XPS data has become a widely used operation. Although in the past, it has seemed it could lead to subjective results, the lot of progress made in the field of XPS (instrumentation and theory) should have improved the situation. This article aims at discussing, on a practical point of view, the current state of this data analysis method.
机译:分析实验室中当今可用的计算器的强大功能已使十年前出现的复杂数据处理方法变得司空见惯。在光电子能谱法(XPS)中,高分辨率光谱的峰分解为基本成分(盎格鲁-撒克逊人的“峰值拟合”)已成为一种常见的甚至相当系统的操作。该操作的名称具有误导性,在于将代表每个组分的几个分析函数线性组合,以便尽可能精确地重建构成峰的实验光谱部分,并在其中发现化学信息。过去,在很多情况下,如果这些组件没有明确分开,则此操作似乎很主观。随着仪器仪表领域的进步(单色X射线源,更高的灵敏度和分析仪的分辨率),电子损耗和连续资金的建模(S. Tougaard的工作)以及许多类型的实验结果的积累对于材料(数据库),我们可以认为情况有所改善。本文尝试从XPS技术的实验室用户的实际角度着眼于该主题,以表征固体材料的表面。%由于过去十年计算机功能的极大提高,已经开发了用于表面数据分析的方法。其中,XPS数据的曲线拟合已成为一种广泛使用的操作。尽管过去似乎可以导致主观结果,但是XPS领域(仪器和理论)所取得的许多进步应该可以改善这种情况。本文旨在从实用的角度讨论此数据分析方法的当前状态。

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