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Modeling aspects in optical metrology V
Modeling aspects in optical metrology V
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1.
Specialized scatterometry methods for two types of gratings with distinct groove profiles
机译:
两种具有不同凹槽轮廓的光栅的专门散射法
作者:
Lin Yang
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
scatterometry;
triangular grating;
standing-wave grating;
grating profile metrology;
2.
Spatial mode projection for side-wall angle measurements
机译:
用于侧壁角度测量的空间模式投影
作者:
L. Cisotto
;
Y. Zhu
;
S. F. Pereira
;
H. P. Urbach
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Side-wall angle;
orbital angular momentum;
mode expansion;
spiral spectrum;
3.
Signal simulation method for homodyne multiple target interferometers using short coherence length laser sources
机译:
使用短相干长度激光源的零差多目标干涉仪的信号仿真方法
作者:
Maik Fox
;
Thorsten Beuth
;
Andreas Streck
;
Wilhelm Stork
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
laser interferometry;
short coherence length;
LiDAR;
system simulation;
4.
Horizontal geometrical reaction time model for two beam nacelle LiDARs
机译:
两梁机舱激光雷达的水平几何反应时间模型
作者:
Thorsten Beuth
;
Maik Fox
;
Wilhelm Stork
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
LiDAR;
anemometer;
wind turbines;
HAWT;
reaction time;
measuring distance;
system engineering;
5.
Investigation vignetting beams in optoelectronic autocollimation angle measurement system
机译:
光电自准直角测量系统中的渐晕光束研究
作者:
Igor A. Konyakhin
;
Aiganym M. Sakhariyanova
;
Andrey Smekhov
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
autocollimator;
vignetting error;
computer analytical model;
algorithm of image processing;
angle measurement system;
6.
Application of the ARMA model in Distributed Fiber Vibration Sensing System
机译:
ARMA模型在分布式光纤振动传感系统中的应用
作者:
Hongyan Wu
;
Haiyan Xu
;
HeKuo Peng
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Distributed Fiber Vibration Sensor;
Positional Accuracy;
Parametric Modelling;
ARMA;
7.
Simulating the coherent light propagation in a random scattering materials using the perturbation expansion
机译:
使用扰动展开模拟随机散射材料中的相干光传播
作者:
Maciej Kraszewski
;
Michal Trojanowski
;
Marcin R. Strakowski
;
Jerzy Plucinski
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Monte Carlo;
light scattering;
optical coherence tomography;
speckle;
8.
Detection of fast flying nanoparticles by light scattering over a large volume
机译:
通过大体积光散射检测快速飞行的纳米颗粒
作者:
F. Pettazzi
;
S. Baeumer
;
J. van der Donck
;
A. Deutz
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Light scattering;
nanoparticles;
contamination;
inline detection;
false positive;
9.
Methods for optical modeling and cross-checking in ellipsometry and scatterometry
机译:
椭偏和散射测量中光学建模和交叉检查的方法
作者:
P. Petrik
;
B. Fodor
;
E. Agocs
;
P. Kozma
;
J. Nador
;
N. Kumar
;
J. Endres
;
G. Juhasz
;
C. Major
;
S. F. Pereira
;
T. Lohner
;
H. P. Urbach
;
B. Bodermann
;
M. Fried
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Ellipsometry;
Scatterometry;
Cross-checking;
Comparative Study;
Optical characterization;
Thin films;
10.
The effect of systematic errors on the hybridization of optical critical dimension measurements
机译:
系统误差对光学临界尺寸测量结果杂交的影响
作者:
Mark-Alexander Henn
;
Bryan M. Barnes
;
Nien Fan Zhang
;
Hui Zhou
;
Richard M. Silver
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
hybrid metrology;
electromagnetic simulation;
sensitivity and uncertainty evaluation;
11.
Simulation of light in-coupling through an aperture probe to investigate light propagation in a thin layer for opto-electronic application
机译:
通过光圈探针模拟光耦合,以研究光在光电应用中在薄层中的传播
作者:
Markus Ermes
;
Stephan Lehnen
;
Zhao Cao
;
Karsten Bittkau
;
Reinhard Carius
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
SNOM;
NSOM;
optical simulation;
fdtd;
topography artefacts;
12.
A cascaded plasmonic superlens for near field imaging with magnification
机译:
级联等离激元超透镜,用于近场放大成像
作者:
Liwei Fu
;
Philipp Schau
;
Karsten Frenner
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Far-field subwavelength imaging;
plasmonic microcavity;
cascaded plasmonic system;
coupled metasurface;
metalens;
13.
Calibration of the amplification coefficient in interference microscopy by means of a wavelength standard
机译:
通过波长标准对干涉显微镜中的放大系数进行校准
作者:
Peter de Groot
;
Jake Beverage
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
coherence scanning interferometry;
interference microscopy;
calibration;
standardization;
14.
In-line digital holography with double knife edge
机译:
双刀在线数字全息
作者:
Claudio Ramirez
;
Claudio Iemmi
;
Juan Campos
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
knife edge;
in-line;
holography;
reconstruction;
twin images;
spatial light modulator;
single-sideband;
15.
FOURIER ANALYSIS OF QUADRATIC PHASE INTERFEROGRAMS
机译:
二次相干图的傅里叶分析
作者:
Jesus Munoz-Maciel
;
Miguel Mora-Gonzalez
;
Francisco J. Casillas-Rodriguez
;
Francisco G. Pena-Lecona
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Phase recovery;
fringe analysis;
interferometry;
Fourier analysis;
metrology;
16.
Phase retrieval based on diffraction element array with single far field
机译:
基于单远场衍射元件阵列的相位恢复
作者:
Shuai Wang
;
Ping Yang
;
Lizhi Dong
;
Bing Xu
;
Mingwu Ao
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Phase retrieval;
single far field;
diffraction element array;
wavefront;
17.
Modelling of microcracks image treated with fluorescent dye
机译:
荧光染料处理的微裂纹图像建模
作者:
Victor Glebov
;
Oleg U. Lashmanov
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
microcracks;
dye penetrant inspection;
defect;
mathematical model;
MATLAB;
non-destructive testing;
18.
High-angle light scattering to determine the optical fiber core
机译:
高角度光散射确定光纤芯
作者:
Grzegorz Swirniak
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Optical fiber characterization;
scattering;
twin rainbow;
inverse scattering problem;
19.
Research of the use of autoreflection scheme to measure the error of the optical elements in Space Telescope's relative position
机译:
利用自动反射方案测量空间望远镜相对位置中光学元件的误差的研究
作者:
Kseniia Ezhova
;
Fedor Molev
;
Igor Konyakhin
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
autoreflection scheme;
Zemax software complex modelling;
luminous mark;
20.
Modeling and analysis of the solar concentrator in photovoltaic systems
机译:
光伏系统中太阳能集中器的建模和分析
作者:
Janusz Mroczka
;
Kamil Plachta
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
photovoltaic system;
Λ-ridge and V-trough concentrator;
tracking system;
BRDF function;
surface roughness;
21.
In situ estimate of duty cycle of surface-relief holographic gratings during development by measuring TM/TE diffraction efficiency ratio
机译:
通过测量TM / TE衍射效率比原位估计表面浮雕全息光栅在显影过程中的占空比
作者:
Biyao Shen
;
Lijiang Zeng
;
Lifeng Li
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Diffraction gratings;
Holography;
Spectral beam combining;
Polarization independent diffraction efficiency;
Duty cycle;
22.
Investigation of a mathematical model of the system of electro-optical sensors for monitoring nonlinear surfaces
机译:
用于监测非线性表面的电光传感器系统数学模型的研究
作者:
Andrew V. Petrochenko
;
Igor A. Konyakhin
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
optoelectronic sensor;
nonlinear surface;
recovery exterior parameters of sensor;
quaternions;
23.
Maximum power point search method for photovoltaic panels which uses a light sensor in the conditions of real shading and temperature.
机译:
用于光伏面板的最大功率点搜索方法,该方法在真实阴影和温度条件下使用光传感器。
作者:
Janusz Mroczka
;
Mariusz Ostrowski
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
maximum power point search method;
light sensor;
perturb and observe;
partial shading;
real shading conditions;
24.
The study of the structural stability of the spiral laser beams propagation through inhomogeneous phase medium
机译:
螺旋激光束在非均匀相介质中传播的结构稳定性研究
作者:
Alexander A. Zinchik
;
Yana. B. Muzychenko
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
spiral phase;
spatial light modulator;
VirtualLab;
structural stability;
correlation;
25.
Propagation Invariant Laser Beams for Optical Metrology Applications
机译:
用于光学计量学的传播不变激光束
作者:
M. Soskind
;
Y. G. Soskind
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
26.
Enlarging applicability domain of the C method with piecewise linear parameterization: gratings of deep and smooth profiles
机译:
通过分段线性参数化扩大C方法的适用范围:深而光滑的轮廓光栅
作者:
Xihong Xu
;
Lifeng Li
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
diffraction;
diffraction gratings;
coordinate transformation method;
C method;
numerical methods;
27.
Phase error analysis and compensation in fringe projection profilometry
机译:
条纹投影轮廓仪中的相位误差分析和补偿
作者:
Christian Braeuer-Burchardt
;
Peter Kuehmstedt
;
Gunther Notni
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
fringe projection;
phase error analysis;
phase shifting profilometry;
28.
Metrological characterization of a Large Aperture Fizeau for x-ray mirrors measurement
机译:
用于X射线镜测量的大孔径菲索的计量学表征
作者:
Maurizio Vannoni
;
Idoia Freijo Martin
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
x-ray optics;
optical testing;
interferometry;
metrology;
29.
A way for measuring the relationship between DM surface and wave-front aberrations in a beam rotate-90° laser system
机译:
测量光束旋转90°激光系统中DM表面与波前像差之间关系的方法
作者:
Ping Yang
;
Ming-Wu Ao
;
Shuai Wang
;
Lizhi Dong
;
Yi Tan
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
wavefront aberration;
DM surface;
deformable mirror;
laser system;
30.
Optical Detectors based on thermoelastic effect in crystalline quartz
机译:
基于晶体石英热弹性效应的光学探测器
作者:
V.P. CHELIBANOV
;
G.G. ISHANIN
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Optical detector;
thermo elastic effect;
quartz crystalline;
electromagnetic radiation;
laser radiation;
31.
Numerical modeling and uncertainty analysis of Light Emitting Diodes for Photometric Measurements
机译:
光度测量用发光二极管的数值建模和不确定性分析
作者:
Mohammed Z. U. Khan
;
Mohammed Abbas
;
Luai M. Al-Hadhrami
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
FDTD;
LEDs;
Optical Metrology;
Photometric Measurements;
Uncertainty Analysis;
Maxwell's Equations;
32.
Transferring Rb+ hyperfine-structure stability to a Fabry-Perot resonator used as a frequency standard for astronomical spectrographs
机译:
将Rb +超细结构的稳定性传递给Fabry-Perot谐振器,该谐振器用作天文光谱仪的频率标准
作者:
Philipp Huke
;
Hanno Holzhueter
;
Ansgar Reiners
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Pound-Drever-Hall;
Laser locking;
Rb+;
33.
Wide-aperture laser beam measurement using transmission diffuser: errors modeling
机译:
使用透射扩散器的宽孔径激光束测量:误差建模
作者:
Ivan S. Matsak
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
34.
The optical properties of tropospheric soot aggregates determined with the DDA (Discrete Dipole Approximation) method
机译:
用DDA(离散偶极近似)方法确定的对流层烟灰聚集体的光学性质
作者:
Krzysztof Skorupski
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
discrete dipole approximation;
light scattering;
black carbon;
soot;
35.
Nonspherical nanoparticles characterization using partially depolarized dynamic light scattering
机译:
使用部分去极化动态光散射表征非球形纳米颗粒
作者:
Alexander D. Levin
;
Ekaterina A.Shmytkova
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Depolarized dynamic light scattering;
nonspherical nanoparticles;
autocorrelation function;
translational and rotational diffusion;
aspect ratio;
gold nanorods;
carbon nanotubes;
colloids;
36.
Non-destructive measurement of two-dimensional refractive index profiles by deflectometry
机译:
用折光法对二维折射率分布进行无损测量
作者:
Di Lin
;
James R. Leger
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
geometrical optics;
inhomogeneous media;
gradient-index;
refractive index;
deflectometry;
metrology;
37.
Problems in Thin Film Thickness Measurement Resolved: Improvements of The Fast Fourier Transform Analysis and Consideration of the Numerical Aperture of Microscope Headers and Collimators
机译:
解决了薄膜厚度测量中的问题:快速傅里叶变换分析的改进以及对显微镜接头和准直仪的数值孔径的考虑
作者:
M. Quinten
;
F. Houta
;
T. Fries
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
thin film;
film thickness;
regression analysis;
FFT;
reflectometry;
angle of incidence;
microscope aperture;
38.
The statistical inverse problem of scatterometry: Bayesian inference and the effect of different priors
机译:
散射测量的统计逆问题:贝叶斯推断和不同先验的影响
作者:
Sebastian Heidenreich
;
Hermann Gross
;
Matthias Wurm
;
Bernd Bodermann
;
Markus Baer
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Uncertainty quantification;
Diffraction gratings;
Hybrid metrology;
39.
Effect of wavefront aberrations on a focused plenoptic imaging system; a wave optics simulation approach
机译:
波前像差对聚焦全光成像系统的影响;波光学模拟方法
作者:
Massimo Turola
;
Chris J. Meah
;
Richard J. Marshall
;
Iain B. Styles
;
Stephen Gruppetta
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Plenoptic imaging;
wavefront sensor;
aberrations;
numerical simulations;
40.
Total Variation Iterative Constraint algorithm for limited-angle tomographic reconstruction of non-piecewise constant structures
机译:
非分段常数结构的有限角度层析成像重建的全变分迭代约束算法
作者:
W. Krauze
;
P. Makowski
;
M. Kujawinska
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
inverse problems;
reconstruction algorithm;
total variation;
compressed sensing;
optical tomography;
limited angle tomography;
biological cell investigation;
41.
Dynamic stitching interferometric testing for large optical plane
机译:
大型光学平面的动态拼接干涉测试
作者:
Xin Wu
;
Te Qi
;
Linna Zhang
;
Yingjie Yu
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
dynamic interferometer;
sub-aperture stitching;
systematic error;
error restraint;
42.
Snapshot polarimeter based on the conical refraction phenomenon
机译:
基于圆锥折射现象的快照旋光仪
作者:
Alba Peinado
;
Angel Lizana
;
Alex Turpin
;
Irene Estevez
;
Claudio Iemmi
;
Todor K. Kalkanjiev
;
Jordi Mompart
;
Juan Campos
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
polarimeter;
conical refraction;
polarimetry;
biaxial crystal;
Stokes vector;
43.
Measurement errors induced by axis tilt of biplates in dual-rotating compensator Mueller matrix ellipsometers
机译:
双旋转补偿器Mueller矩阵椭圆仪中双板的轴倾斜引起的测量误差
作者:
Honggang Gu
;
Chuanwei Zhang
;
Hao Jiang
;
Xiuguo Chen
;
Weiqi Li
;
Shiyuan Liu
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
dual-rotating compensator Mueller matrix ellipsometer;
biplate;
axis tilt;
measurement errors;
accuracy;
44.
Correction of depolarization effect in Mueller matrix ellipsometry with polar decomposition method
机译:
极性分解法校正Mueller矩阵椭偏仪中的去极化效应
作者:
Weiqi Li
;
Chuanwei Zhang
;
Hao Jiang
;
Xiuguo Chen
;
Honggang Gu
;
Shiyuan Liu
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Mueller matrix ellipsometry (MME);
nanostructure metrology;
depolarization effect;
polar decomposition;
45.
Parallel Aligned Liquid Crystal on Silicon display based optical set-up for the generation of polarization spatial distributions
机译:
基于硅显示器的平行取向液晶的光学装置,用于产生偏振空间分布
作者:
Irene Estevez
;
Angel Lizana
;
Xuejie Zheng
;
Alba Peinado
;
Claudio Ramirez
;
Jose Luis Martinez
;
Andres Marquez
;
Ignacio Moreno
;
Juan Campos
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
Optical modulation;
Optical polarization;
Optical retarders;
Stokes parameters;
Optical vortices;
Adaptive optics;
Displays;
46.
A novel autocollimating method for measuring the focal distances
机译:
一种测量焦距的新型自动准直方法
作者:
Alexandr G. Ershov
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
focal distances;
optical metrology;
uncertainty;
47.
Using quaternions to control assembly and adjustment mirror-prism optical systems
机译:
使用四元数控制组装和调整镜棱镜光学系统
作者:
Kseniia Ezhova
;
Victor Zverev
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
quaternions;
mirror systems;
mirror-prism systems;
48.
Simulation and analysis of lightweight space mirror design
机译:
轻型太空镜设计的仿真与分析
作者:
Polina. A. Abdula
;
Mikhail. Y. Neutov
;
Nadejda. D. Tolstoba
会议名称:
《Modeling aspects in optical metrology V》
|
2015年
关键词:
mirror;
telescope;
large aperture telescope;
large mirrors lightweighting;
49.
Determination of refractive index by Moire deflectometry
机译:
莫尔折光法测定折射率
作者:
Mohammad Ahmadi
;
Khosro Madanipour
;
Soheila Javadianvarjovi
会议名称:
《》
|
2015年
关键词:
refractive index;
moire technique;
deflectometry;
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