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Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland
Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland
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1.
Spectroellipsometric investigation of GaSb surfaces after their chemical wet etching
机译:
GaSb表面化学湿蚀刻后的分光光度法研究
作者:
Andrzei Kudla
;
Ewa Papis-Polakowska
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
GaSb layers;
spectroscopic ellipsometry;
surface etching;
refractive index;
2.
Simple method of laser beam quality analysis
机译:
激光束质量分析的简单方法
作者:
A.A.Ryzhevich
;
N.S.Kazak
;
N.A.Khilo
;
A.N.Khilo
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
bessel light beams;
mode structure;
axicons;
laser beam quality;
3.
Time-domain and spectral-domain two-beam interference under general measurement conditions
机译:
一般测量条件下的时域和谱域两束干扰
作者:
Petr Hlubina
;
Pavel Stejskal
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
two-beam interference;
michelson interferometer;
time domain;
spectral domain;
low-coherence source;
prism monochromator;
grating monochromator;
spectrometer;
spectral bandpass;
temporal coherence function;
4.
Spectropolarimetric device for determination of optical anisotropic parameters of crystals
机译:
用于确定晶体光学各向异性参数的分光偏振仪
作者:
G.J.Utkin
;
S.VAlekseev
;
U.V.Volnov
;
A.F.Konstantinova
;
EA.Evdishchenko
;
B.V.Nabatov
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
spectropolarimeter;
birefringence;
dichroism;
optical activity;
pseudotensor of gyration;
5.
Color evaluation of guest-host liquid crystal displays
机译:
宾主液晶显示器的颜色评估
作者:
Danuta Bauman
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
dichroic dye;
liquid crystal;
display;
color difference;
6.
Applications of low-coherence interferometry in fiber optics
机译:
低相干干涉法在光纤中的应用
作者:
Petr Hlubina
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
low-coherence interferometry;
time domain;
spectral domain;
michelson interferometer;
two-mode optical fiber;
tandem configuration;
group optical path difference;
intermodal dispersion;
spectrometer;
fourier-transform method;
7.
Application of interference filters for synthesis spectral characteristics of UV meters
机译:
干涉滤光片在紫外光谱仪综合光谱特性中的应用
作者:
Marian Gilewski
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
UV radiation;
biologically effective UV doses;
bandpass UV filters;
semiconductor photodetectors;
8.
Colorimetric evaluation of the spot center during the optical design of microscope objectives
机译:
显微镜物镜光学设计中光斑中心的比色评估
作者:
Tadeusz Kryszczynski
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
colorimetry;
optical design;
microscope objectives;
image quality;
9.
Errors of spectral correction caused by the diffusing element of the photometric meter head during illuminence measurement
机译:
在照度测量过程中,由光度计头的扩散元件引起的光谱校正误差
作者:
Irena Fryc
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
photometry;
illuminance;
light meters;
light source;
luminous flux;
10.
Direct and inverse problem in scatterometry of rough surfaces
机译:
粗糙表面散射法中的正反问题
作者:
Czeslaw Lukianowicz
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
surface roughness;
surface metrology;
scatterometry;
direct and inverse problem;
11.
Efficient filtering of colour image sequences
机译:
彩色图像序列的有效过滤
作者:
Robert Suski
;
Slawomir Skoneczny
;
Jaroslaw Szostakowski
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
12.
Evanescent Bessel light beams
机译:
van逝贝塞尔光束
作者:
Goncharenko A.M.
;
Khilo N.A.
;
Petrova E.S.
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
bessel light beams;
total internal reflection;
evanescent field;
13.
Mathematical model for calculation of the optical rotation and the contrast of the image
机译:
用于计算旋光度和图像对比度的数学模型
作者:
A. Andreev
;
P. Tantaswadi
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
optical rotation;
contrast of image;
and half-shade analyzer;
14.
Narrow-band polarising interference filters with liquid crystal space layer
机译:
具有液晶空间层的窄带偏振干涉滤光片
作者:
Jerzy Ciosek
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
narrow-band-pass filter;
liquid crystal;
birefringent filters;
tunable filter;
15.
New peculiarities of spectroscopic measurements with noncollinear scheme and nonpolarized light
机译:
非共线方案和非偏振光光谱测量的新特性
作者:
A. V. Lavrinenko
;
I.I. Gancheryonok
;
T. Dreier
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
partially polarized light;
saturation spectroscopy;
nonlinear polarization spectroscopy;
optically heterodyned interferometry;
anisotropy;
gyrotropy;
wave operators;
16.
New approach to the spatial correction of luxmeter photometric heads
机译:
照度计光度头空间校正的新方法
作者:
Irena Fryc
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
photometry;
light meters;
luminous flux;
17.
Optical Transmission Spectra of Na_(0.4)R_(0.6)F_(2.2) Single Crystals with Fluorite Structure
机译:
具有萤石结构的Na_(0.4)R_(0.6)F_(2.2)单晶的光透射光谱
作者:
Shtyrkova A.P.
;
Glushkova T.M.
;
Firsova M.M.
;
Kiselev D.F.
;
Krivandina E.A.
;
Zhmurova Z.I.
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
fluoride;
nonstoichiometrical phases;
rare earth elements;
optical transmission spectra;
absorption bands;
IR absorption edge;
18.
Absorption spectra and circular dichroism of calcium and strontium gallogermanates doped by chromium
机译:
铬掺杂的镓锗酸钙和锶的吸收光谱和圆二色性
作者:
V.P.Orekhova
;
Z.B.Perekalina
;
K.A.Kaldybaev
;
B.V.Mill
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
absorption spectrum;
circular dichroism;
Ca - gallogermanate;
Sr - gallogermanate;
crystals;
19.
Order parameter evaluation of LC-polymer from the interferometric / refractometric data
机译:
根据干涉/折光数据评估LC聚合物的阶跃参数
作者:
Kiselev D.F.
;
Glushkova T.M.
;
Ivanov S.A.
;
Firsova M.M.
;
Shtyrkova A.P.
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
LC-copolymer;
homeotropically oriented film;
refractive indices;
order parameter;
20.
AFM and optical methods in determining of roughness of SERS-active silver electrodes
机译:
AFM和光学方法确定SERS活性银电极的粗糙度
作者:
S. Kruszewski
;
T. Kobiela
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
surface enhanced raman scattering;
surface roughness;
atomic force microscopy;
21.
Optical properties of deposited layers created by an erosion plasma torch
机译:
腐蚀等离子体炬产生的沉积层的光学特性
作者:
V. Z. Greben
;
V. A. Dlugunovich
;
A. V. Tsaruk
;
V. V. Shkurko
;
B. I. Stepanov
会议名称:
《》
|
2000年
关键词:
plasma torch;
laser radiation;
deposition;
stokes parameters;
22.
Propagation and diffractional transformation of laser beams in anisotropic media
机译:
各向异性介质中激光束的传播和衍射变换
作者:
Kurilkina S.N.
;
Kovchur S.N.
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
light beam;
optical anisotropy;
optical axis;
23.
Radiometry in military applications
机译:
军事应用中的辐射测量
作者:
Krzysztof Chrzanowski
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
guided missiles;
optoelectronic imaging systems;
optoelectronic countermeasures;
night vision devices;
24.
Polarization self-action effects of partially polarizaed light in polarization inhomogeneous media
机译:
部分偏振光在偏振非均匀介质中的偏振自作用效应
作者:
Irina V. Shapochkina
;
Igor I. Gancheryonok
;
Thomas Dreier
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
light-induced anisotropy;
degree of polarization;
polarization azimuth and ellipticity;
covariant approach;
tensor of polarization self-action;
tensor of beam;
25.
Polytetrafluoroethylene powder as a material for reflectance and colour standards
机译:
聚四氟乙烯粉末作为反射率和颜色标准的材料
作者:
Adriana Kuszczynska
;
Jerzy Pietrzykowski
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
reflectance standard;
colour standard;
polytetrafluoroethylene;
carbon black;
rare earths;
spectral luminance factor;
26.
Angular characteristics of a silicon detector spectral sensitivity corrected by an absorption filter
机译:
通过吸收滤光片校正的硅探测器光谱灵敏度的角度特性
作者:
Irena Fryc
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
photometry;
illuminance;
light source;
luminous flux;
27.
Spectroscopic ellipsometry investigation of influence of high pressure-high temperature process on optical properties of SiO_2-Si structures
机译:
椭偏光谱法研究高压高温对SiO_2-Si结构光学性能的影响
作者:
Witold Rzodkiewicz
;
Andrzej Kudla
;
Andrzej Misiuk
;
Stanislaw Lasisz
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
spectroscopic ellipsometry;
SiO_2-Si structure;
thin films;
optical properties;
high pressure;
SEM;
28.
Effect of measurement geometry on colorimetric head spectral errors
机译:
测量几何形状对比色头光谱误差的影响
作者:
Irena Fryc
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
photometry;
illuminance;
colorymetry;
light source;
luminous flux.;
29.
Colorimetry as diagnostic tool in manufacture of antireflection coatings
机译:
比色法作为抗反射涂料生产中的诊断工具
作者:
G. J. Kopec
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
spectral reflectance;
antireflection coatings;
curved optical surfaces;
30.
Colorimetric evaluation of display performance
机译:
显示性能的比色评估
作者:
Bogdan B. Kosmowski
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
colour display;
information visualisation;
colorimetry;
colorimetric systems;
31.
Effective anisotropic plane-stratified polarizer and its optimization by the analysis of density of modes
机译:
有效各向异性平面分层偏振器及其通过模密度分析的优化
作者:
Andrei Lavrinenko
;
Dmitry Shyroki
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
photonic band gap structure;
electromagnetic mode density;
anisotropy;
polarization;
normal modes;
32.
Chosen properties of a photometric detector BPYP 07
机译:
BPYP 07光度检测器的选定特性
作者:
Irena Fryc
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
photometry;
illuminance;
light source;
luminous flux;
33.
Comparison of ellipsometric methods for separate determination of thickness and optical constants of thin films
机译:
椭圆光度法分别测定薄膜厚度和光学常数的比较
作者:
E. G. Bortchagovsky
;
O. M. Getsko
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
ellipsometry;
thin films;
thickness;
refractive index;
correlation;
34.
Compact Turbopolarimeter
机译:
紧凑型涡轮旋光仪
作者:
Gennady I. Utkin
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
|
2000年
关键词:
polarimeter;
turbopolarimeter;
optical activity;
scanning;
polarimetry;
35.
Measurement capabilities of a compact thermal type standard of energy unit of pulse laser radiation
机译:
紧凑型热能型脉冲激光辐射能量单元的测量能力
作者:
Wojciech Skrzeczanowski
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
pulse laser;
calorimeter;
standard of energy unit;
uncertainty of measurement;
metrology;
36.
Estimation of effective electrooptical parameters of superlattices
机译:
超晶格有效电光参数的估计
作者:
Kurilkina S.N.
;
Zykov A.L.
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
37.
Laser heating effect on polarization charecteristics of radiation reflected by glass reinforced silicon polymer
机译:
激光加热对玻璃增强硅聚合物反射辐射的偏振特性的影响
作者:
V. Z. Greben
;
V. A. Dlugunovich
;
E. A. Kruplevich
;
V. N. Snopko
;
A. V. Tsaruk
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
polarization characteristics;
stokes parameters;
reflection;
polymer composites;
laser ablation;
38.
Laser goniophotometric Stokes polarimeter
机译:
激光测角斯托克斯旋光仪
作者:
V. A. Dlugunovich
;
V. N. Snopko
;
A. V. Tsaruk
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
stokes polarimetry;
stokes parameters;
random and systematic errors;
39.
Linear bi-gyrotropic and quadratic gyroelectric Kerr effect
机译:
线性双回旋和二次回旋克尔效应
作者:
Ondrej Barta
;
Jaroslav Vlcek
;
Jaromir Pistora
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
magnetooptical effects;
ultrathin structures;
Bi-gyrotropic kerr effect;
quadratic kerr effect;
40.
Method of order parameter estimation for liquid crystal in the electrooptical cell from absorption band dichroism
机译:
从吸收带二色性估计电光单元中液晶的阶数参数的方法
作者:
Kiselev D.F.
;
Glushkova T.M.
;
Ivanov S.A.
;
Firsova M.M.
;
Shtyrkova A.P.
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
liquid crystal polymers;
electrooptical cell;
absorption dichroism;
41.
Method of measuring spatial intensity of laser beams
机译:
测量激光束空间强度的方法
作者:
Romuald Synak
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
lasermetry;
laser beam diameter measurement;
spatial intensity measurement;
42.
Modified interferometric method for refractive index profile measurement of multi-elliptical core optical fibers
机译:
改进的干涉法测量多椭圆芯光纤的折射率分布
作者:
A. M. Sadik
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
interferometry;
multi-core;
optical fibre;
refractive index;
refractive index profile;
mach-zehnder interferometer;
43.
Optical constants and film thickness calculation based on the ratio of envelopes of the reflectance spectrum
机译:
根据反射光谱的包络比计算光学常数和膜厚
作者:
Valery V. Filippov
;
Vitaly P. Kutavichus
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
thin films;
reflectance spectra envelopes;
optical constants;
44.
Simulation of birefringence effects in reciprocal fiber-optic polarimetric current sensor
机译:
双向光纤极化电流传感器中双折射效应的仿真
作者:
P. Tantaswadi
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
optical current sensor;
environmental perturbations;
polarimetric current sensor;
birefringence;
state of polarization;
45.
Polarization characteristics of He-Ne laser radiation reflected by leaves
机译:
叶子反射的氦氖激光辐射的偏振特性
作者:
V. A. Dlugunovich
;
V.A. Zaitseva
;
A. V. Tsaruk
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
plant leaf;
stokes parameters;
degree and azimuth of polarization;
ellipticity of polarized radiation;
46.
Birefringence dispersion mapping - a new technique for testing of optical inhomogeneity in crystalline materials
机译:
双折射色散映射-一种测试晶体材料中光学不均匀性的新技术
作者:
Andrzej L. Bajor
会议名称:
《Conference on Lightmetry: Metrology, Spectroscopy, and Testing Techniques Using Light Jun 5-8, 2000, Pultusk, Poland》
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2000年
关键词:
birefringence dispersion;
spectropolarimetry;
LiNbO_3;
gamma irradiation;
thermal annealing;
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