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IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
召开年:
2019
召开地:
Rhodes(GR)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
The Missing Applications Found: Robust Design Techniques and Novel Uses of Memristors
机译:
发现的遗失应用:稳健的设计技术和忆阻器的新颖用途
作者:
Marco Ottavi
;
Vishal Gupta
;
Saurabh Khandelwal
;
Shahar Kvatinsky
;
Jimson Mathew
;
Eugenio Martinelli
;
Abusaleh Jabir
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Memristors;
Photovoltaic cells;
Resistance;
Circuit faults;
Switches;
Sensors;
Degradation;
2.
Towards Improvement of Mission Mode Failure Diagnosis for System-on-Chip
机译:
致力于改进片上系统的任务模式故障诊断
作者:
S. Mhamdi
;
A. Virazel
;
P. Girard
;
A. Bosio
;
E. Auvray
;
E. Faehn
;
A. Ladhar
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Logic gates;
Tools;
Circuit faults;
Machine learning;
Transistors;
Failure analysis;
3.
On the Encryption of the Challenge in Physically Unclonable Functions
机译:
物理上不可克隆的功能对挑战的加密
作者:
Elena Ioana Vatajelu
;
Giorgio Di Natale
;
Mohd Syafiq Mispan
;
Basel Halak
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Encryption;
Machine learning;
Mathematical model;
Authentication;
Correlation;
Hash functions;
4.
Self-Monitoring, Self-Healing Biomorphic Sensor Technology
机译:
自我监控,自我修复的生物形态传感器技术
作者:
Andrew Richardson
;
David Cheneler
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Corrosion;
Degradation;
Capacitance;
Intelligent sensors;
Substrates;
Electrodes;
5.
Compact Modeling of NBTI Replicating AC Stress / Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement
机译:
NBTI的紧凑模型,可通过单次长期直流测量来复制交流应力/恢复
作者:
Takumi Hosaka
;
Shinichi Nishizawa
;
Ryo Kishida
;
Takashi Matsumoto
;
Kazutoshi Kobayashi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Negative bias temperature instability;
Thermal variables control;
Degradation;
Stress;
Reliability;
Fitting;
6.
Detecting Errors in Convolutional Neural Networks Using Inter Frame Spatio-Temporal Correlation
机译:
使用帧间时空相关检测卷积神经网络中的错误
作者:
Lucas Klein Draghetti
;
Fernando Fernandes dos Santos
;
Luigi Carro
;
Paolo Rech
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Object detection;
Correlation;
Neural networks;
Error correction codes;
Reliability;
Circuit faults;
Feature extraction;
7.
Automated Die Inking through On-line Machine Learning
机译:
通过在线机器学习自动进行模具上墨
作者:
Constantinos Xanthopoulos
;
Arnold Neckermann
;
Paulus List
;
Klaus-Peter Tschernay
;
Peter Sarson
;
Yiorgos Makris
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Semiconductor device modeling;
Training;
Feature extraction;
Testing;
Manuals;
Machine learning;
Dies;
8.
Efficient Concurrent Error Detection for SEC-DAEC Encoders
机译:
SEC-DAEC编码器的高效并发错误检测
作者:
Jiaqiang Li
;
Pedro Reviriego
;
Costas Argyrides
;
Liyi Xiao
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Error correction codes;
Parity check codes;
Decoding;
Microelectronics;
Single event upsets;
Fault tolerance;
9.
Trusted and Secure Design of Analog/RF ICs: Recent Developments
机译:
模拟/ RF IC的可靠和安全设计:最新进展
作者:
Kiruba Subramani
;
Georgios Volanis
;
Mohammad-Mahdi Bidmeshki
;
Angelos Antonopoulos
;
Yiorgos Makris
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Trojan horses;
Integrated circuits;
Hardware;
Wireless communication;
Communication system security;
Wireless sensor networks;
Security;
10.
Modern Hardware Margins: CPUs, GPUs, FPGAs Recent System-Level Studies
机译:
现代硬件利润率:CPU,GPU,FPGA最近的系统级研究
作者:
Dimitris Gizopoulos
;
George Papadimitriou
;
Athanasios Chatzidimitriou
;
Vijay Janapa Reddi
;
Behzad Salami
;
Osman S. Unsal
;
Adrian Cristal Kestelman
;
Jingwen Leng
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Multicore processing;
Field programmable gate arrays;
Voltage measurement;
Microprocessors;
Graphics processing units;
Clocks;
Benchmark testing;
11.
Total Ionizing Dose Effects by alpha irradiation on circuit performance and SEU tolerance in thin BOX FDSOI process
机译:
α辐照对薄BOX FDSOI工艺中电路性能和SEU耐受性的总电离剂量效应
作者:
Takashi Yoshida
;
Kazutoshi Kobayashi
;
Jun Furuta
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Silicon-on-insulator;
Radiation effects;
Annealing;
Leakage currents;
Semiconductor device measurement;
MOSFET circuits;
Frequency measurement;
12.
PASCAL: Timing SCA Resistant Design and Verification Flow
机译:
PASCAL:时序SCA抗性设计和验证流程
作者:
Xinhui Lai
;
Maksim Jenihhin
;
Jaan Raik
;
Kolin Paul
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Timing;
Hardware;
Tools;
Side-channel attacks;
Clocks;
13.
A New DEC/TED Code for Fast Correction of 2-Bit-Errors
机译:
快速纠正2位错误的新DEC / TED码
作者:
Paul-Patrick Nordmann
;
Michael Goessel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Error correction codes;
Delay effects;
Testing;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Computer science;
14.
Stuck-at-OFF Fault Analysis in Memristor-Based Architecture for Synchronization
机译:
基于忆阻器的同步架构中的卡死故障分析
作者:
Manuel Escudero
;
Ioannis Vourkas
;
Antonio Rubio
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Testing;
System analysis and design;
Synchronization;
Memristors;
Switching circuits;
Adaptive arrays;
Nonlinear circuits;
15.
Testing permanent faults in pipeline registers of GPGPUs: A multi-kernel approach
机译:
测试GPGPU的管道寄存器中的永久性故障:一种多内核方法
作者:
Josie E. Rodriguez Condia
;
Matteo Sonza Reorda
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Testing;
Registers;
System analysis and design;
Image edge detection;
Pipelines;
Kernel;
Ground penetrating radar;
16.
On a Side Channel and Fault Attack Concurrent Countermeasure Methodology for MCU-based Byte-sliced Cipher Implementations
机译:
基于MCU的字节切片密码实现的侧信道和故障攻击并发对策方法
作者:
Ehsan Aerabi
;
Athanasios Papadimitriou
;
David Hely
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Ciphers;
Encoding;
Software;
Hardware;
Power demand;
17.
Flight Safety Certification Implications for Complex Multi-Core Processor based Avionics Systems
机译:
基于复杂多核处理器的航空电子系统的飞行安全认证意义
作者:
Jyotika Athavale
;
Riccardo Mariani
;
Michael Paulitsch
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Safety;
Aerospace electronics;
Certification;
Multicore processing;
Software;
Aircraft;
18.
A Vulnerability Factor for ECC-protected Memory
机译:
ECC保护的内存的漏洞因素
作者:
Luc Jaulmes
;
Miquel Moretó
;
Mateo Valero
;
Marc Casas
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Error correction codes;
Benchmark testing;
Jacobian matrices;
Task analysis;
Random access memory;
Timing;
19.
About IOLTS 2019
机译:
关于IOLTS 2019
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
20.
IOLTS 2019 Welcome Message
机译:
IOLTS 2019欢迎辞
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
21.
IOLTS 2019 Committees
机译:
IOLTS 2019委员会
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
22.
IOLTS 2019 External Reviewers
机译:
IOLTS 2019外部审核员
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
23.
Error Correction Coding of Stochastic Numbers Using BER Measurement
机译:
使用BER测量对随机数进行纠错编码
作者:
Ryota Ishikawa
;
Masashi Tawada
;
Masao Yanagisawa
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Error correction codes;
Error correction;
Bit error rate;
Measurement uncertainty;
Decoding;
Encoding;
Semiconductor device measurement;
24.
Control Loop of Image Correction based on Detection and Self-Healing of Defective Pixels
机译:
基于缺陷像素的检测和自修复的图像校正控制环
作者:
Ghislain Takam Tchendjou
;
Emmanuel Simeu
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Image sensors;
Process control;
Dispersion;
Capacitive sensors;
Sensor phenomena and characterization;
Digital cameras;
25.
QuSecNets: Quantization-based Defense Mechanism for Securing Deep Neural Network against Adversarial Attacks
机译:
QuSecNets:基于量化的防御机制,可保护深度神经网络免受对抗性攻击
作者:
Faiq Khalid
;
Hassan Ali
;
Hammad Tariq
;
Muhammad Abdullah Hanif
;
Semeen Rehman
;
Rehan Ahmed
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Quantization (signal);
Training;
Libraries;
Perturbation methods;
Optimization;
Resilience;
Convolutional neural networks;
26.
A Design for Testability Method for k-Cycle Capture Test Generation
机译:
k周期捕获测试生成的可测试性方法设计
作者:
Yuta Ishiyama
;
Toshinori Hosokawa
;
Hiroshi Yamazaki
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Registers;
Hardware;
Test pattern generators;
Discrete Fourier transforms;
Circuit faults;
Multiplexing;
27.
Resiliency Demands on Next Generation Critical Embedded Systems
机译:
下一代关键嵌入式系统的弹性需求
作者:
Jacob A. Abraham
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Hardware;
Security;
Computer bugs;
Trojan horses;
Circuit faults;
Embedded systems;
28.
Studying Aging and Soft Error Mitigation Jointly under Constrained Scenarios in Multi-Cores
机译:
多核约束场景下联合研究老化和软错误缓解
作者:
Florian Kriebel
;
Semeen Rehman
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Aging;
Software reliability;
Multicore processing;
Timing;
Task analysis;
Redundancy;
29.
Securing Scan through Plain-text Restriction
机译:
通过纯文本限制保护扫描
作者:
Satyadev Ahlawat
;
Kailash Ahirwar
;
Jaynarayan Tudu
;
Masahiro Fujita
;
Virendra Singh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Encryption;
Logic gates;
Switching circuits;
Clocks;
Switches;
Very large scale integration;
30.
A Novel Simulation-Based Approach for ISO 26262 Hazard Analysis and Risk Assessment
机译:
基于新颖的基于仿真的ISO 26262危害分析和风险评估方法
作者:
J. Sini
;
M. Violante
;
V. Dodde
;
R. Gnaniah
;
L. Pecorella
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Testing;
System analysis and design;
31.
An Efficient SAT-Attack Algorithm Against Logic Encryption
机译:
一种有效的针对逻辑加密的SAT攻击算法
作者:
Yusuke Matsunaga
;
Masayoshi Yoshimura
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Logic gates;
Encryption;
Superluminescent diodes;
Integrated circuits;
Benchmark testing;
Information science;
32.
TrISec: Training Data-Unaware Imperceptible Security Attacks on Deep Neural Networks
机译:
TrISec:在深度神经网络上训练数据感知的不可感知的安全攻击
作者:
Faiq Khalid
;
Muhammad Abdullah Hanif
;
Semeen Rehman
;
Rehan Ahmed
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Training;
Security;
Correlation;
Autonomous vehicles;
Inference algorithms;
Automation;
Optimization;
33.
Hierarchical Check Based Detection and Diagnosis of Sensor-Actuator Malfunction in Autonomous Systems: A Quadcopter Study
机译:
基于分层检查的自治系统中传感器-执行器故障的检测和诊断:四轴飞行器研究
作者:
Md Imran Momtaz
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Autonomous systems;
Actuators;
Trajectory;
Brushless motors;
Sensor systems;
34.
Dual Detection of Heating and Photocurrent attacks (DDHP) Sensor using Hybrid CMOS/STT-MRAM
机译:
使用混合CMOS / STT-MRAM双重检测加热和光电流攻击(DDHP)传感器
作者:
M. Kharbouche-Harrari
;
R. Wacquez
;
G. Di Pendina
;
J.-M. Dutertre
;
J. Postel-Pellerin
;
D. Aboulkassimi
;
J.-M. Portal
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Integrated circuits;
Semiconductor lasers;
Transient analysis;
Circuit faults;
Junctions;
Transistors;
Magnetic tunneling;
35.
Efficient Methodology for ISO26262 Functional Safety Verification
机译:
ISO26262功能安全验证的有效方法
作者:
Felipe Augusto da Silva
;
Ahmet Cagri Bagbaba
;
Said Hamdioui
;
Christian Sauer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Tools;
Circuit faults;
Safety;
Fault detection;
Europe;
Measurement;
Hardware;
36.
Identification of Failure Modes for Circuit Samples with Confounded Causes of Failure
机译:
带有混杂故障原因的电路样品的故障模式识别
作者:
Shu-han Hsu
;
Ying-Yuan Huang
;
Kexin Yang
;
Linda Milor
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Probability density function;
Maximum likelihood estimation;
Failure analysis;
Electric breakdown;
Ring oscillators;
Integrated circuit modeling;
Hazards;
37.
LED Alert: Supply Chain Threats for Stealthy Data Exfiltration in Industrial Control Systems
机译:
LED警报:工业控制系统中隐匿数据泄露的供应链威胁
作者:
Dimitrios Tychalas
;
Anastasis Keliris
;
Michail Maniatakos
会议名称:
《》
|
2019年
关键词:
Trojan horses;
Supply chains;
Hardware;
Light emitting diodes;
Kernel;
Computer security;
Embedded systems;
38.
Development of FF Circuits for Measures Against Power Supply Noise
机译:
FF电路的开发,以消除电源噪声
作者:
Yukiya Miura
;
Miyuki Inoue
;
Yuya Kinoshita
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Testing;
System analysis and design;
Flip-flops;
Latches;
Power supplies;
Performance evaluation;
39.
ICE-RADAR: In-situ, Cost-Effective Razor Flip-Flop Deployment for Aging Resilience
机译:
ICE-RADAR:现场,经济高效的剃须刀人字拖部署,可延缓衰老
作者:
Kai-Chiang Wu
;
Wei-Tao Huang
;
Chiao-Yang Huang
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Silicon;
Flip-flops;
Aging;
Resilience;
Testing;
System analysis and design;
Computer science;
40.
Estimation of oxide breakdown effects by fault injection
机译:
通过故障注入估算氧化物击穿效应
作者:
Chiara Sandionigi
;
Olivier Heron
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Circuit faults;
Electric breakdown;
Aging;
Registers;
Integrated circuit modeling;
Logic gates;
Reliability;
41.
Efficient Fault Injection based on Dynamic HDL Slicing Technique
机译:
基于动态HDL切片技术的高效故障注入
作者:
Ahmet Cagri Bagbaba
;
Maksim Jenihhin
;
Jaan Raik
;
Christian Sauer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Hardware design languages;
Vehicle dynamics;
Optimization;
Clocks;
Tools;
Choppers (circuits);
Safety;
42.
Empirical Evaluation on Anomaly Behavior Detection for Low-Cost Micro-Controllers Utilizing Accurate Power Analysis
机译:
利用精确功率分析的低成本微控制器异常行为检测的经验评估
作者:
Kento Hasegawa
;
Kiyoshi Chikamatsu
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Current measurement;
Feature extraction;
Anomaly detection;
Power measurement;
Voltage measurement;
Trojan horses;
Hardware;
43.
IOLTS 2019 Keynote
机译:
IOLTS 2019主题演讲
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
44.
IOLTS 2019 Technical Papers
机译:
IOLTS 2019技术论文
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
45.
Comparison of Radiation Hardness of Stacked Transmission-Gate Flip Flop and Stacked Tristate-Inverter Flip Flop in a 65 nm Thin BOX FDSOI Process
机译:
堆叠传输门触发器和堆叠三态逆变器触发器在65 nm Thin BOX FDSOI工艺中的辐射硬度比较
作者:
Mitsunori Ebara
;
Kodai Yamada
;
Jun Furuta
;
Kazutoshi Kobayashi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Radiation effects;
Ions;
Neutrons;
Delays;
Silicon-on-insulator;
Standards;
Power demand;
46.
Run-time Detection and Mitigation of Power-Noise Viruses
机译:
电力噪声病毒的运行时检测和缓解
作者:
Vasileios Tenentes
;
Shidhartha Das
;
Daniele Rossi
;
Bashir M. Al-Hashimi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Viruses (medical);
Benchmark testing;
Microprocessors;
Resonant frequency;
Threshold voltage;
Security;
System-on-chip;
47.
Analysis on Retention Time and Adaptive Refresh in Embedded DRAMs with Aging Benefits
机译:
具有老化优势的嵌入式DRAM的保留时间和自适应刷新分析
作者:
Abdessamad Najdi
;
Daniele Rossi
;
Vasileios Tenentes
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Leakage currents;
Topology;
Aging;
Standards;
MOSFET;
Junctions;
48.
Reliability-Aware Task Allocation Latency Optimization in Edge Computing
机译:
边缘计算中的可靠性感知任务分配延迟优化
作者:
Andreas Kouloumpris
;
Maria K. Michael
;
Theocharis Theocharides
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Task analysis;
Reliability;
Resource management;
Energy consumption;
Optimization;
Cloud computing;
Performance evaluation;
49.
Towards Scalable Lifetime Reliability Management for Dark Silicon Manycore Systems
机译:
迈向深色硅Manycore系统的可扩展的终身可靠性管理
作者:
Vijeta Rathore
;
Vivek Chaturvedi
;
Amit K. Singh
;
Thambipillai Srikanthan
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Aging;
Reliability;
Silicon;
Indexes;
Task analysis;
Reinforcement learning;
IP networks;
50.
Bayesian models for early cross-layer reliability analysis and design space exploration
机译:
用于早期跨层可靠性分析和设计空间探索的贝叶斯模型
作者:
Alessandro Vallero
;
Alessandro Savino
;
Alberto Carelli
;
Stefano Di Carlo
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Reliability engineering;
Software reliability;
Space exploration;
Computational modeling;
Integrated circuit reliability;
Software;
51.
3D Integration: Another Dimension Toward Hardware Security
机译:
3D集成:硬件安全的另一个方面
作者:
Johann Knechtel
;
Satwik Patnaik
;
Ozgur Sinanoglu
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Three-dimensional displays;
Security;
Manufacturing;
Through-silicon vias;
Hardware;
Two dimensional displays;
52.
iATPG: Instruction-level Automatic Test Program Generation for Vulnerabilities under DVFS attack
机译:
iATPG:DVFS攻击下的漏洞的指令级自动测试程序生成
作者:
Kuozhong Zhang
;
Junying Huang
;
Jing Ye
;
Xiaochun Ye
;
Da Wang
;
Dongrui Fan
;
Huawei Li
;
Xiaowei Li
;
Zhimin Zhang
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Voltage control;
Hardware;
Regulators;
Frequency synchronization;
Testing;
Time-frequency analysis;
Registers;
53.
A Controller Augmentation Method to Improve Transition Fault Coverage for RTL Data-Paths
机译:
一种控制器增强方法,用于提高RTL数据路径的过渡故障覆盖率
作者:
Yuki Takeuchi
;
Toshinori Hosokawa
;
Hiroshi Yamazaki
;
Masayoshi Yoshimura
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Circuit faults;
Registers;
Test pattern generators;
Integrated circuit modeling;
Discrete Fourier transforms;
Hardware;
54.
Power-aware Reliable Communication for the IoT
机译:
物联网的功率感知可靠通信
作者:
Philipp H. Kindt
;
Samarjit Chakraborty
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Protocols;
Wireless communication;
Ad hoc networks;
Delays;
Microsoft Windows;
Robustness;
55.
Characterization and Modeling of SET Generation Effects in CMOS Standard Logic Cells
机译:
CMOS标准逻辑单元中SET产生效应的表征和建模
作者:
Marko Andjelkovic
;
Yuanqing Li
;
Zoran Stamenkovic
;
Milos Krstic
;
Rolf Kraemer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Logic gates;
Integrated circuit modeling;
Analytical models;
Load modeling;
Standards;
Table lookup;
Data models;
56.
Machine Learning to Tackle the Challenges of Transient and Soft Errors in Complex Circuits
机译:
机器学习应对复杂电路中的瞬态和软错误的挑战
作者:
Thomas Lange
;
Aneesh Balakrishnan
;
Maximilien Glorieux
;
Dan Alexandrescu
;
Luca Sterpone
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Circuit faults;
Integrated circuit modeling;
Feature extraction;
Machine learning;
Predictive models;
Training;
Transient analysis;
57.
Selective Fault Tolerance by Counting Gates with Controlling Value
机译:
通过对具有控制值的门进行计数来实现选择性容错
作者:
Anselm Breitenreiter
;
Stefan Weidling
;
Oliver Schrape
;
Steffen Zeidler
;
Pedro Reviriego
;
Milos Krstic
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Testing;
System analysis and design;
58.
Fault Modeling and Simulation of Memristor based Gas Sensors
机译:
基于忆阻器的气体传感器的故障建模与仿真
作者:
Saurabh Khandelwal
;
Anu Bala
;
Vishal Gupta
;
Marco Ottavi
;
Eugenio Martinelli
;
Abusaleh Jabir
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Memristors;
Gas detectors;
Circuit faults;
Computational modeling;
Mathematical model;
Delays;
59.
Methodology for Tradeoffs between Performance and Lifetimes of Integrated Circuits
机译:
集成电路性能与寿命之间权衡的方法
作者:
Daniel Weyer
;
Francis Wolff
;
Chris Papachristou
;
Steve Clay
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Current density;
Integrated circuit interconnections;
Wires;
Metals;
Electromigration;
Resistance;
60.
Application Specific True Critical Paths Identification in Sequential Circuits
机译:
时序电路中特定于应用的真关键路径识别
作者:
Lembit Jürimägi
;
Raimund Ubar
;
Maksim Jenihhin
;
Jaan Raik
;
Sergei Devadze
;
Adeboye Stephen Oyeniran
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Testing;
System analysis and design;
Delays;
Iterative methods;
Circuit faults;
61.
HATE: a HArdware Trojan Emulation Environment for Microprocessor-based Systems
机译:
讨厌:用于基于微处理器的系统的HArdware木马仿真环境
作者:
Cristiana Bolchini
;
Luca Cassano
;
Ivan Montalbano
;
Giampiero Repole
;
Andrea Zanetti
;
Giorgio Di Natale
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Microprocessors;
Hardware;
Trojan horses;
Tools;
Benchmark testing;
62.
Implementation of CMOS Logic Circuits with Perfect Fault Detection Using Preservative Reversible Gates
机译:
使用防腐可逆门实现完美故障检测的CMOS逻辑电路
作者:
Sajjad Parvin
;
Mustafa Altun
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Logic gates;
Libraries;
Fault detection;
Electrical fault detection;
Switching circuits;
Observability;
63.
Recipes to build-up a rad-hard CMOS memory
机译:
建立抗辐射CMOS存储器的配方
作者:
Cristiano Calligaro
;
Umberto Gatti
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Computer architecture;
Transistors;
Radiation hardening (electronics);
Shape;
Microprocessors;
Nonvolatile memory;
Random access memory;
64.
A Radiation Tolerant 10/100 Ethernet Transceiver for Space Applications
机译:
航天应用的耐辐射10/100以太网收发器
作者:
Anselm Breitenreiter
;
Jesús López
;
Pedro Reviriego
;
Milos Krstic
;
Úrsula Gutierro
;
Manuel Sánchez-Renedo
;
Daniel González
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Ethernet;
Transceivers;
Clocks;
Integrated circuits;
Testing;
Radiation hardening (electronics);
Space vehicles;
65.
Reliability Challenges with Self-Heating and Aging in FinFET Technology
机译:
FinFET技术中自加热和老化带来的可靠性挑战
作者:
Hussam Amrouch
;
Victor M. van Santen
;
Om Prakash
;
Hammam Kattan
;
Sami Salamin
;
Simon Thomann
;
Jörg Henkel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
FinFETs;
Heating systems;
SRAM cells;
Integrated circuit reliability;
66.
Global and Local Process Variation Simulations in Design for Reliability approach
机译:
可靠性方法设计中的全局和局部过程变化模拟
作者:
Audrey MICHARD
;
Florian CACHO
;
Damien CELESTE
;
Xavier FEDERSPIEL
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Aging;
Semiconductor device modeling;
Degradation;
Integrated circuit modeling;
Dispersion;
Mathematical model;
Reliability;
67.
HCD-Induced GIDL Increase and Circuit Implications
机译:
HCD引起的GIDL增加和电路影响
作者:
Edoardo Ceccarelli
;
Kevin Manning
;
Giuseppe Macera
;
Dennis Dempsey
;
Colm Heffernan
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Degradation;
Power demand;
Logic gates;
Integrated circuit modeling;
Stress;
Hot carriers;
68.
Variation-aware Fault Modeling and Test Generation for STT-MRAM
机译:
STT-MRAM的变化感知故障建模和测试生成
作者:
S.M. Nair
;
R. Bishnoi
;
M. B. Tahoori
;
H. Grigoryan
;
G. Tshagharyan
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Analytical models;
Circuit faults;
Resistance;
Layout;
Temperature sensors;
Testing;
Temperature distribution;
69.
Meeting the Conflicting Goals of Low-Power and Resiliency Using Emerging Memories : (Invited Paper)
机译:
使用新兴内存实现低功耗和弹性的冲突目标:(特邀论文)
作者:
Karthikeyan Nagarajan
;
Mohammad Nasim Imtiaz Khan
;
Sina Sayyah Ensan
;
Abdullah Ash-Saki
;
Swaroop Ghosh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Nonvolatile memory;
Sensors;
Resistance;
Legged locomotion;
Random access memory;
Magnetic tunneling;
Transistors;
70.
Variation-Resilient Design Techniques for Energy-Constrained Systems
机译:
能量受限系统的变弹性设计技术
作者:
Bing-Chen Wu
;
Tsung-Te Liu
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Clocks;
Voltage control;
Pipeline processing;
Delays;
Sensors;
Energy efficiency;
71.
A Test Generation Method Based on k-Cycle Testing for Finite State Machines
机译:
基于k周期测试的有限状态机测试生成方法
作者:
Yuya Kinoshita
;
Toshinori Hosokawa
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Test pattern generators;
Circuit faults;
Integrated circuit modeling;
Sequential circuits;
Automata;
Registers;
72.
Cost-effective Resilient FPGA-based LDPC Decoder Architecture
机译:
具有成本效益的基于弹性FPGA的LDPC解码器架构
作者:
Eduardo N. de Souza
;
Gabriel L. Nazar
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Decoding;
Parity check codes;
Field programmable gate arrays;
Redundancy;
Resilience;
Parallel processing;
73.
Software-only Diverse Redundancy on GPUs for Autonomous Driving Platforms
机译:
用于自动驾驶平台的GPU上的纯软件多样化冗余
作者:
Sergi Alcaide
;
Leonidas Kosmidis
;
Carles Hernandez
;
Jaume Abella
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Graphics processing units;
Redundancy;
Safety;
Microcontrollers;
Hardware;
Kernel;
74.
Can Multi-Layer Microfluidic Design Methods Aid Bio-Intellectual Property Protection?
机译:
多层微流体设计方法可以帮助保护生物知识产权吗?
作者:
Mohammed Shayan
;
Sukanta Bhattacharjee
;
Yong-Ak Song
;
Krishnendu Chakrabarty
;
Ramesh Karri
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Valves;
Layout;
Nonhomogeneous media;
Foundries;
Multiplexing;
Mixers;
Three-dimensional displays;
75.
JTAG: A Multifaceted Tool for Cyber Security
机译:
JTAG:网络安全的多方面工具
作者:
Prashant Hari Narayan Rajput
;
Michail Maniatakos
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Testing;
Debugging;
Registers;
Standards;
Kernel;
Performance evaluation;
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