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1.
Polar decomposition applied to light scattering by structured 2D surfaces
机译:
极性分解应用于结构化2D表面的光散射
作者:
J. M. Sanz
;
J. M. Saiz
;
F. Moreno
;
F. Gonzalez
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
polarimetry;
mueller matrix;
scattering;
polar decomposition;
structured surface;
2.
Polarization of Dipole Scattering by Randomly Oriented Ellipsoids
机译:
随机取向的椭球对偶极子散射的极化
作者:
Soe-Mie F. Nee
;
Tsu-Wei Nee
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
isotropic and anisotropic photon scattering;
ellipsoid molecule model;
polarization and depolarization;
randomly oriented ellipsoids;
3.
Wavelength-tunable focal length of a nanopatterned metallic planar lens with strong focusing capability
机译:
具有强聚焦能力的纳米图案金属平面透镜的波长可调焦距
作者:
L. David Wellems
;
Danhong Huang
;
T. A. Leskova
;
A. A. Maradudin
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
4.
Optical inspection of flat reflective surfaces by a wave front sensor
机译:
波前传感器对平坦反射面进行光学检查
作者:
I. Lazareva
;
A. Nutsch
;
L. Pfitzner
;
L. Frey
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
wave front sensor;
optical metrology;
visual inspection;
surface flatness;
surface roughness;
bare silicon wafer;
5.
A Kirchhoff Approximation for Surface Plasmon Polaritons
机译:
表面等离激元极化子的基尔霍夫近似
作者:
T. A. Leskova
;
A. A. Maradudin
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
6.
The idea of the Lambertian surface - history, idealization and system theoretical aspects and part 1 of a lost chapter onmultiple reflection
机译:
Lambertian曲面的概念-历史,理想化和系统理论方面,以及关于 r n多重反射的丢失章节的第1部分
作者:
Cornelius Hahlweg
;
Burkhard Meifiner
;
Wenjing Zhao
;
Hendrik Rothe
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
johann heinrich lambert;
lambertian;
reflection;
dioptrical;
gustav kirchhoff;
photometria;
pho-tometry;
7.
New scanning gonio-photometer for extended BRTFmeasurements
机译:
用于扩展BRTF r n测量的新型扫描测角光度计
作者:
Peter Apian-Bennewitz
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
BRTF;
BSDF;
gonio-photometer;
scattering;
stray light;
illumination engineering;
optical metrology;
8.
Multiple scatter of vector electromagnetic waves from rough metal surfaces with infinite slopes using the Kirchhoff approximation
机译:
使用Kirchhoff近似从具有无限斜率的粗糙金属表面对矢量电磁波进行多次散射
作者:
N.C. Bruce
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
light scattering;
kirchhoff approximation;
vector waves;
9.
Preliminary characterization study of a gold-coated concentrator for hemispherical longwave irradiance measurements
机译:
镀金聚光器用于半球长波辐照度测量的初步表征研究
作者:
Jinan Zeng
;
Leonard Hanssen
;
Ibrahim Reda
;
Jonathan Scheuch
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
Concentrator;
Complete Hemispherical Infrared Laser-based Reflectometer;
diffuse gold reference;
integrating sphere;
BRDF;
10.
Effective decomposition of pearlescent paints
机译:
有效分解珠光涂料
作者:
Myoung Kook Seo
;
Duck Bong Kim
;
Kang Yeon Kim
;
Kwan H. Lee
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
Decomposition;
pearlescent paints;
BRDF;
11.
A novel method for diameter estimation of small opaque objects usingFraunhofer diffraction
机译:
r nFraunhofer衍射估算不透明小物体直径的新方法
作者:
Khushi Vyas
;
Kameswara Rao Lolla
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
Dimension estimation;
optical diffraction;
small opaque object;
diameter measurement;
metallic cylinders.;
12.
Optical material characterization through BSDF measurement andanalysis
机译:
通过BSDF测量和分析来表征光学材料
作者:
Andrea M. Brown
;
Daniel V. Hahn
;
Michael E. Thomas
;
David M. Brown
;
Jessica Makowski
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
surface scattering;
BRDF;
BSDF;
13.
Developing a multi-spectral HDR imaging module for a BRDFmeasurement system
机译:
为BRDF r n测量系统开发多光谱HDR成像模块
作者:
Duck Bong Kim
;
Myoung Kook Seo
;
Kang Yeon Kim
;
Kwan H. Lee
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
Multi-spectral HDR imaging, spectral characterization;
metamerism;
liquid crystal tunable filter;
14.
Coherence Effects: from Spectral Change to Nondiffraction
机译:
相干效应:从光谱变化到无衍射
作者:
Zu-Han Gu
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
Spectral shift;
Wolf effect;
coherence effect;
source correlation;
spectrum;
rough surface scattering;
15.
A General BRDF/BSDF Model Including Out-of-Plane Dependence
机译:
包含平面依赖性的通用BRDF / BSDF模型
作者:
M.E. Thomas
;
R.I. Joseph W.J. Tropf
;
A.M. Brown
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
BRDF;
BSDF;
Diffuse Reflectance;
Phase Function;
Specular Reflectance;
Total Integrated Reflectance;
16.
Bidirectional reflectance distribution of a 2-D thin-film photonic crystal patterned using an atomic-force microscope
机译:
使用原子力显微镜构图的二维薄膜光子晶体的双向反射率分布
作者:
Nicholas C. Heir
;
Michael A. Marciniak
;
Alex G. Li
;
Larry W. Burggraf
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
atomic force microscope;
AFM;
bidirectional reflectance distribution function;
BRDF;
nano-indentation;
photonic crystals;
17.
Investigations on back scatter of typical projectiles for application of laser based trajectory measurement
机译:
基于激光轨迹测量的典型弹丸后向散射研究
作者:
Wenjing Zhao
;
Cornelius Hahlweg
;
Hendrik Rothe
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
projectile;
trajectory;
back scatter;
Lambertian;
curvature;
illumination;
laser;
lidar;
18.
Restoration of scene information reflected from a non-specular surface
机译:
恢复从非镜面反射的场景信息
作者:
Mark G. Hoelscher
;
Michael A. Marciniak
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
dual photography;
Helmholtz reciprocity;
bidirectional reflectance distribution function;
BRDF;
19.
Development of a tunable polarimetric scatterometry system in theMWIR and LWIR
机译:
r nMWIR和LWIR中可调谐偏振散射测量系统的开发
作者:
Thomas M. Fitzgerald
;
Michael A. Marciniak
;
Stephen E. Nauyoks
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
polarimetric scatterometry;
MWIR;
LWIR;
metamaterial;
plasmonics;
photonic crystals;
dual-rotating-retarder polarimeter;
diffuse ellipsometry;
20.
Time depending techniques for volume and discrete boundarysurface scatterometry and part II of a lost chapter inLambert's Photometria on multiple reflection
机译:
体积和离散边界散射的时间依赖技术 r n表面散射法和多次反射中兰伯特光度法中丢失章节的第二部分
作者:
Cornelius Hahlweg
;
Burkhard Meiβner
;
Wenjing Zhao
;
Hendrik Rothe
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
FMCW;
GHz interferometry;
scatter;
volume scatter;
boundary surface;
laser;
lambert;
multiple reflections;
21.
Design rules for catadioptric scatterometers based on measurement requirements
机译:
基于测量要求的折反射散射仪设计规则
作者:
Wenjing Zhao
;
Cornelius Hahlweg
;
Hendrik Rothe
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
scatterometry;
elliptical mirror;
catoptrical;
catadioptrical;
dioptrical;
caustic;
scheimpflug princi-ple;
spot size;
22.
Temperature Dependence of the Reflectance of Metals at VisibleWavelengths
机译:
可见光 r n波长下金属反射率的温度依赖性
作者:
Sandip Maity
;
Ayan Banerjee
;
Chayan Mitra
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
optical reflectance;
non-contact;
temperature measurement;
surface roughness;
speckle pattern;
metal temperature;
23.
Optical measurement for the concentrations of the pickling acid with near infrared spectroscopy in steel making industry
机译:
钢铁工业中近红外光谱法对酸洗酸浓度的光学测量
作者:
Gumin Kang
;
Kwangchil Lee
;
Haesung Park
;
Jinho Lee
;
Youngjean Jung
;
Kyoungsik Kim
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
Near infrared spectroscopy;
pickling acid;
multivariate calibration;
24.
PASCAL: Instrument for accurate precise characterization ofLambertian materials
机译:
PASCAL:用于精确表征朗伯材料的仪器
作者:
Vijay Murgai
;
John M. Nixt
;
Eric M. Moskun
;
Christopher M. Jones
;
Chad E. Payton
;
Jacob D.rnCdeBaca
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
bidirectional;
diffuse reflectance;
spectral reflectance;
Spectralon™ properties;
25.
A model for the optical properties of amorphous carbon (soot)
机译:
非晶碳(烟灰)光学特性的模型
作者:
Michael E. Thomas
;
David E. Freund
;
Richard I. Joseph
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
soot;
refractive index;
optical properties;
relative permittivity;
absorption;
26.
Nonstandard refraction of light from one- and two-dimensional dielectric quasi-periodic surfaces
机译:
一维和二维介电准周期表面的光的非标准折射
作者:
Zu-Han Gu
;
Anting Wang
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
rough surface scattering;
refraction;
designer surface;
metamaterials;
27.
Improvements of nanometer particle's measuring system based onphoton correlation spectroscopy
机译:
基于 r n光子相关光谱法的纳米粒子测量系统的改进
作者:
Shaoyong Deng
;
Qi Zhang
;
Junying Xia
;
Yan Xiong
;
Shaofeng Guo
;
Yisheng Yang
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
FODLS;
PCS;
mono-disperse system;
double-disperse system;
photon counting board;
software correlator;
"Y" type fiber;
Labview;
28.
Topography measurement of specular and diffuse surfaces
机译:
镜面和漫反射表面的形貌测量
作者:
David Ignacio Serrano Garcia
;
Amalia Martinez Garcia
;
Juan Antonio Rayas-Alvarez
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
Optical Metrology;
Fringe Projection;
Placido Rings;
Topography of Lens;
29.
Stress Measurement of thin wafer using Reflection Grating Method
机译:
使用反射光栅法测量薄晶圆的应力
作者:
Chi Seng Ng
;
Anand K. Asundi
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
reflection moire, warpage;
curvature measurement;
residual stress;
silicon wafer;
30.
Reflectance Measurements for Black Absorbers Made of VerticallyAligned Carbon Nanotubes
机译:
垂直 r n对准的碳纳米管制成的黑色吸收体的反射率测量
作者:
X. J. Wang
;
O. S. Adewuyi
;
L. P. Wang
;
B. A. Cola
;
Z. M. Zhang
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
Black Absorber;
BRDF;
Carbon Nanotubes;
Reflectance;
31.
A partially coherent slowly diffracting beam
机译:
部分相干的慢衍射光束
作者:
E. R. Mendez
;
E. E. García-Guerrero
;
Zu-Han Gu
;
T. A. Leskova
;
A. A. Maradudin
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
32.
Mechanical Surface Treatment to Obtain Optically Cooperative Surfaces vis-a-vis Fringe Projection
机译:
机械表面处理以获得与条纹投影相对应的光学配合表面
作者:
Omar Abo-Namous
;
Markus Kastner
;
Eduard Reithmeier
;
Martin Nicolaus
;
rnKai Mohwald
;
Friedrich-Wilhelm Bach
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
optical metrology;
surface treatment;
fringe projection;
light scattering;
optical cooperativity;
33.
Roughness influence on periodic gratings and application to opticalmetrology of roughness
机译:
粗糙度对周期光栅的影响及其在粗糙度光学学中的应用
作者:
Alexandra Vauselle
;
Laurent Arnaud
;
Gaelle Georges
;
Claude Amra
;
Carole Deumie
;
rnPhilippe Maillot
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
roughness spectrum;
metrology, grating;
scattering;
diffraction;
AFM;
34.
Experimental confirmation of the Rayleigh-Rice obliquity factor
机译:
Rayleigh-Rice倾角因子的实验确认
作者:
John C. Stover
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
Rayleigh-Rice;
obliquity factor;
light scatter;
roughness scatter;
BRDF;
PSD;
35.
A stereoscopic imaging system for laser back scatter based trajectory measurement in ballistics
机译:
一种基于激光后向散射的弹道轨迹测量的立体成像系统
作者:
Eugen Wilhelm
;
Uwe Chalupka
;
Cornelius Hahlweg
;
Wenjing Zhao
;
Hendrik Rothe
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
projectile tracking;
trajectory measurement;
back scatter, illumination;
stereoscopy;
laser;
lidar;
imaging system;
36.
Polarization/depolarization of non-diffusive anisotropic photoiscattering bio-medical tissues
机译:
非扩散各向异性光散射生物医学组织的极化/去极化
作者:
Tsu-Wei Nee
;
Hsing-Wen Wang
;
Soe-Mie F. Nee
;
Stewart H. Wu
会议名称:
《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces II》
|
2010年
关键词:
Tissue;
isotropic and anisotropic photon-scattering;
non-diffusive scattering;
polarization;
depolarization;
Mueller matrix;
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