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Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV
Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV
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1.
Differential reflectance spectroscopy of GaAs
机译:
GaAs的差分反射光谱
作者:
Michael Gal
;
Univ. of New South Wales
;
Kensington
;
New South Wales
;
Australia
;
C.Shwe
;
Univ. of New South Wales
;
Mandalay
;
Myanmar
;
Burma
;
P.Kraisingdecha
;
Univ. of New South Wales
;
Kensington
;
New South Wales
;
Australia.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
2.
Electromodulation of semiconductors and semiconductor microstructures utilizing a new contactless technique
机译:
利用新的非接触技术对半导体和半导体微结构进行电调制
作者:
X.Yin
;
CUNY/Brooklyn College
;
Brooklyn
;
NY
;
USA
;
Xinxin Guo
;
CUNY/Brooklyn College
;
Brooklyn
;
NY
;
USA
;
Fred H. Pollak
;
CUNY/Brooklyn College
;
Brooklyn
;
NY
;
USA
;
G.D. Pettit
;
IBM Thomas J. Watson Research Ctr.
;
Yorktown Heights
;
NY
;
USA
;
Jerry M. Woodall
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
3.
Effect of annealing on Fermi level pinning of low-temperature molecular-beam epitaxial GaAs
机译:
退火对低温分子束外延GaAs费米能级钉扎的影响
作者:
Hongen Shen
;
GEO Centers
;
Inc.
;
Lake Hopatcong
;
NJ
;
USA
;
J.Pamulapati
;
U.S. Army Electronics Technology
;
Devices Lab.
;
Fort Monmouth
;
NJ
;
USA
;
Robert A. Lux
;
U.S. Army Electronics Technology
;
Devices Lab.
;
Fort Monmouth
;
NJ
;
USA
;
Mitra Dutta
;
U.S. Army Elec
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
4.
Luminescence properties of Al0.48In0.52As under hydrostatic pressure
机译:
静水压力下Al0.48In0.52As的发光性能
作者:
Hai-Ping Zhou
;
Univ. of Glasgow
;
Glasgow
;
Scotland
;
United Kingdom
;
Clivia M. Sotomayor Torres
;
Univ. of Glasgow
;
Glasgow
;
Strathclyde
;
United Kingdom.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
5.
Implementation of a polarization modulation technique in a photoluminescence and photoluminescence excitation measurement setup
机译:
在光致发光和光致发光激发测量装置中实现偏振调制技术
作者:
Matthias Wassermeier
;
Univ. of California/Santa Barbara
;
Santa Barbara
;
CA
;
USA
;
Helge Weman
;
Univ. of California/Santa Barbara
;
Linkoping
;
Sweden
;
M.S. Miller
;
Univ. of California/Santa Barbara
;
Santa Barbara
;
CA
;
USA
;
Pierre M. Petroff
;
Univ. of Califor
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
6.
Optical studies of interface roughness in GaAs/AlAs quantum-well structures (Invited Paper)
机译:
GaAs / AlAs量子阱结构中界面粗糙度的光学研究(特邀论文)
作者:
Daniel Gammon
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
B.V. Shanabrook
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
D.S. Katzer
;
Naval Research Lab.
;
Alexandria
;
VA
;
USA.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
7.
Raman spectroscopy of delta-doped GaAs layers and wires (Invited Paper)
机译:
掺镓GaAs层和导线的拉曼光谱(特邀论文)
作者:
Joachim Wagner
;
Fraunhofer-Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik
;
Frieburg
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
8.
Raman and photoluminescence characterization of AlGaAs multiple-quantum-well structures formed by focused-ion-beam implantation
机译:
聚焦离子束注入形成的AlGaAs多量子阱结构的拉曼光谱和光致发光特性
作者:
Howard E. Jackson
;
Univ. of Cincinnati
;
Cincinnati
;
OH
;
USA
;
Ahn G. Choo
;
Univ. of Cincinnati
;
Cincinnati
;
OH
;
USA
;
Bernard L. Weiss
;
Univ. of Cincinnati
;
Guildford
;
Surrey
;
United Kingdom
;
Joseph T. Boyd
;
Univ. of Cincinnati
;
Cincinnati
;
OH
;
USA
;
Andrew
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
9.
Picosecond spectroscopy in solids with a free-electron laser (Invited Paper)
机译:
用自由电子激光在固体中进行皮秒光谱分析(受邀论文)
作者:
Philippe M. Fauchet
;
Univ. of Rochester
;
Rochester
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
10.
Raman scattering characterization of processing effects on GaAs planar photoconductors
机译:
GaAs平面光电导体上的加工效应的拉曼散射表征
作者:
Monique T. Constant
;
Univ. des Sciences et Techniques de Lille Flandres Ar tois
;
Villeneuve dAscq Cedex
;
France
;
A.Bellarbi
;
Univ. des Sciences et Techniques de Lille Flandres Ar tois
;
Villeneuve dAscq Cedex
;
France
;
A.Lorriaux
;
Univ. des Sciences et Te
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
11.
Raman spectroscopy study of interdiffusion in Si/SiGe superlattices
机译:
Si / SiGe超晶格相互扩散的拉曼光谱研究
作者:
Orest J. Glembocki
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
Sharka M. Prokes
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
12.
Reflectance difference for in-situ characterization of surfaces and epitaxial growth of GaAs on (001) GaAs
机译:
(001)GaAs表面原位表征和GaAs外延生长的反射率差异
作者:
Lars Samuelson
;
Univ. of Lund
;
Lund
;
Sweden
;
Knut Deppert
;
Univ. of Lund
;
Lund
;
Sweden
;
Bert Junno
;
Univ. of Lund
;
Lund
;
Sweden
;
Jan Jonsson
;
Univ. of Lund
;
Lund
;
Sweden
;
Gert Paulsson
;
Univ. of Lund
;
Lund
;
Sweden.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
13.
Properties and structures of Fe-based metallic thin films in amorphous and crystalline forms (Poster Paper)
机译:
非晶态和结晶态的铁基金属薄膜的特性和结构(海报纸)
作者:
Khaled J. Habib
;
Institut fuer Technische Chemie
;
Safat
;
Kuwait.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
14.
Temperature dependence of the 11H photoreflectance lineshape in an (001) In0.21Ga0.79As/GaAs single quantum well
机译:
(001)In0.21Ga0.79As / GaAs单量子阱中11H光反射线形的温度依赖性
作者:
Hao Qiang
;
CUNY/Brooklyn College
;
Brooklyn
;
NY
;
USA
;
Y.S. Huang
;
CUNY/Brooklyn College
;
Brooklyn
;
NY
;
USA
;
Fred H. Pollak
;
CUNY/Brooklyn College
;
Brooklyn
;
NY
;
USA
;
G.D. Pettit
;
IBM Thomas J. Watson Research Ctr.
;
Yorktown Heights
;
NY
;
USA
;
Jerry M. Wooda
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
15.
Application of differential photoreflectance spectroscopy in selective modulation of a layer within multilayer device structures
机译:
差分光反射光谱法在多层器件结构中的层的选择性调制中的应用
作者:
Author(s): Alireza Badakhshan Univ. of Minnesota/Duluth Saint Peter MN USA
;
Michael Sydor Univ. of Minnesota/Duluth Duluth MN USA
;
Kambiz Alavi Univ. of Texas/Arlington Arlington TX USA
;
N.Teraguchi Univ. of Illinois/Urbana-Champaign Urbana
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
16.
Correlation between electric field temperature and carrier concentration with respect to photoreflectance lineshape at the E1 transition of GaAs
机译:
GaAs E1跃迁处电场温度和载流子浓度与光反射线形的相关性
作者:
Alireza Badakhshan
;
Univ. of Minnesota/Duluth
;
Saint Peter
;
MN
;
USA
;
C.Durbin
;
Univ. of Texas/Dallas
;
Richardson
;
TX
;
USA
;
Robert Glosser
;
Univ. of Texas/Dallas
;
Richardson
;
TX
;
USA
;
Kambiz Alavi
;
Univ. of Texas/Arlington
;
Arlington
;
TX
;
USA
;
S.Nicholas
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
17.
Direct measurement of the piezoelectric field and Fermi level pinning in 111B grown InGaAs/GaAs heterostructures
机译:
在111 B生长的InGaAs / GaAs异质结构中直接测量压电场和费米能级
作者:
Mitra Dutta
;
U.S. Army Electronics Technology
;
Devices Lab.
;
Fort Monmouth
;
NJ
;
USA
;
Hongen Shen
;
GEO Centers
;
Inc.
;
Lake Hopatcong
;
NJ
;
USA
;
J.Pamulapati
;
U.S. Army Electronics Technology
;
Devices Lab.
;
Fort Monmouth
;
NJ
;
USA
;
Wayne H. Chang
;
U.S. Army Ele
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
18.
Dielectric functions and critical point transitions of single strained and relaxed InxGa1-xAs/GaAs epilayers studied by spectroscopic ellipsometry and photoreflectance
机译:
光谱椭偏和光反射研究单应变和松弛InxGa1-xAs / GaAs外延层的介电功能和临界点跃迁
作者:
Roger T. Carline
;
Royal Signals
;
Radar Establishment
;
Malvern Wells
;
Worcs
;
United Kingdom
;
Chris Pickering
;
Royal Signals
;
Radar Establishment
;
Great Malvern
;
Worcestershire
;
United Kingdom
;
N.S. Garawal
;
Univ. of Surrey
;
Guildford
;
Surrey
;
United Kingdom
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
19.
In-situ characterization of thin film semiconductors by spectroellipsometry from ultraviolet to infrared
机译:
光谱半导体从紫外到红外的原位表征
作者:
Bernard Drevillon
;
Ecole Polytechnique
;
Palaiseau
;
France.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
20.
In-situ electron spectroscopy studies of interaction between P and GaAs(100) surface
机译:
P与GaAs(100)表面相互作用的原位电子光谱研究
作者:
Xuekun Lu
;
Fudan Univ.
;
Shanghai
;
China
;
Xiaoyuan Hou
;
Fudan Univ.
;
Shanghai
;
China
;
Xunmin Ding
;
Fudan Univ.
;
Shanghai
;
China
;
Xun Wang
;
Fudan Univ.
;
Shanghai
;
China.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
21.
High-resolution x-ray diffraction analysis of thin III-V layers and quantum wires (Invited Paper)
机译:
薄III-V层和量子线的高分辨率X射线衍射分析(邀请论文)
作者:
Leander Tapfer
;
Centro Nazionale Ricerca e Sviluppo Materiali
;
Mesagne
;
Brindisi
;
Italy.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
22.
In-situ and ex-situ ellipsometric characterization for semiconductor technology (Invited Paper)
机译:
半导体技术的原位和异位椭偏表征(特邀论文)
作者:
John A. Woollam
;
Univ. of Nebraska/Lincoln
;
Lincoln
;
NE
;
USA
;
Paul G. Snyder
;
Univ. of Nebraska/Lincoln
;
Lincoln
;
NE
;
USA
;
Huade Yao
;
Univ. of Nebraska/Lincoln
;
Lincoln
;
NE
;
USA
;
Blaine D. Johs
;
J.A. Woollam Co.
;
Lincoln
;
NE
;
USA.
会议名称:
《》
|
1992年
23.
Microwave-modulated photoluminescence: technique and a
机译:
微波调制的光致发光:技术和方法
作者:
Matthew C. DeLong
;
Univ. of Utah
;
Salt Lake City
;
UT
;
USA
;
I.Viohl
;
Univ. of Utah
;
Salt Lake City
;
UT
;
USA
;
W.D. Ohlsen
;
Univ. of Utah
;
Salt Lake City
;
UT
;
USA
;
P.C. Taylor
;
Univ. of Utah
;
Salt Lake City
;
UT
;
USA
;
F.P. Dabkowski
;
Polaroid Corp.
;
Cambridge
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
24.
Magneto-optical studies of highly excited quantum wells (Invited Paper)
机译:
高激发量子阱的磁光研究(邀请论文)
作者:
Vladimir D. Kulakovskii
;
Institute of Solid State Physics (USSR)
;
Wurzburg
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
25.
New technique for obtaining the electroreflectance spectrum: vacuum electroreflectance (Poster Paper)
机译:
获得电反射光谱的新技术:真空电反射(海报纸)
作者:
Silvia L. Mioc
;
Univ. of Illinois/Chicago
;
Chicago
;
IL
;
USA
;
Paul M. Raccah
;
Univ. of Illinois/Chicago
;
Chicago
;
IL
;
USA
;
James W. Garland
;
Univ. of Illinois/Chicago
;
Chicago
;
IL
;
USA.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
26.
Application of differential photoreflectance spectroscopy in selectivemodulation of a layer within multilayer device structures,
机译:
差分光反射光谱法在多层器件结构中的层的选择性调制中的应用,
作者:
Alireza Badakhshan
;
Univ. of Minnesota/Duluth
;
Saint Peter
;
MN
;
USA
;
Michael Sydor
;
Univ. of Minnesota/Duluth
;
Duluth
;
MN
;
USA
;
Kambiz Alavi
;
Univ. of Texas/Arlington
;
Arlington
;
TX
;
USA
;
N.Teraguchi
;
Univ. of Illinois/Urbana-Champaign
;
Urbana
;
IL
;
USA
;
H
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
27.
Photoluminescence from pseudomorphically strained Si/Si1-xGex multiple quantum wells grown on silicon
机译:
硅上生长的拟晶应变Si / Si1-xGex多量子阱的光致发光
作者:
Stefan Zollner
;
IBM Thomas J. Watson Research Ctr.
;
Ames
;
IA
;
USA
;
Reuben T. Collins
;
IBM Thomas J. Watson Research Ctr.
;
Yorktown Heights
;
NY
;
USA
;
M.S. Goorsky
;
IBM Thomas J. Watson Research Ctr.
;
Univ. of Calif ornia/L
;
Los Angeles
;
CA
;
USA
;
P.J. Wang
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
28.
Optical studies of lattice-matched and strained GaInAs/AlInAs single quantum wells
机译:
晶格匹配和应变GaInAs / AlInAs单量子阱的光学研究
作者:
A.Tabata
;
INSA de Lyon
;
Villeurbanne Cedex
;
France
;
S.Moneger
;
INSA de Lyon
;
Villeurbanne Cedex
;
France
;
Taha Benyattou
;
INSA de Lyon
;
Villeurbanne Cedex
;
France
;
Y.Baltagi
;
INSA de Lyon
;
Villeurbanne Cedex
;
France
;
Gerard Guillot
;
INSA de Lyon
;
Villeurba
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
29.
Photoreflectance characteristics of AlGaAs/GaAs structures
机译:
AlGaAs / GaAs结构的光反射特性
作者:
Bernard L. Weiss
;
Univ. of Cincinnati
;
Guildford
;
Surrey
;
United Kingdom
;
Ahn G. Choo
;
Univ. of Cincinnati
;
Cincinnati
;
OH
;
USA
;
Howard E. Jackson
;
Univ. of Cincinnati
;
Cincinnati
;
OH
;
USA.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
30.
Raman scattering in InxGa1-x As/GaAs superlattices grown by molecular-beam epitaxy
机译:
分子束外延生长的InxGa1-x As / GaAs超晶格中的拉曼散射
作者:
Monique T. Constant
;
Univ. des Sciences et Techniques de Lille Flandres Ar tois
;
Villeneuve dAscq Cedex
;
France
;
N.Matrullo
;
Univ. des Sciences et Techniques de Lille Flandres Ar tois
;
Villeneuve dAscq Cedex
;
France
;
A.Lorriaux
;
Univ. des Sciences et Te
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
31.
Systematic optical study of InxGa1-xAs on InP using photoluminescence photoreflectance and micro-Raman spectroscopy
机译:
利用光致发光光反射和显微拉曼光谱对InP上InxGa1-xAs进行系统光学研究
作者:
Joseph P. Estrera
;
Univ. of Texas/Dallas
;
Garland
;
TX
;
USA
;
Walter M. Duncan
;
Texas Instruments
;
Inc.
;
Dallas
;
TX
;
USA
;
Yung C. Kao
;
Texas Instruments
;
Inc.
;
Dallas
;
TX
;
USA
;
H.Y. Liu
;
Texas Instruments
;
Inc.
;
Dallas
;
TX
;
USA
;
Patrick D. Stevens
;
Univ. of
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
32.
Saturation spectroscopy of carriers in semiconductor multiple-quantum-well structures
机译:
半导体多量子阱结构中载流子的饱和光谱
作者:
Radha Ranganathan
;
SUNY/Buffalo
;
Northridge
;
CA
;
USA
;
Jann Kaminski
;
Univ. of California/Santa Barbara
;
Santa Barbara
;
CA
;
USA
;
Wei J. Li
;
SUNY/Buffalo
;
Buffalo
;
NY
;
USA
;
Jiping Cheng
;
SUNY/Buffalo
;
Cambridge
;
MA
;
USA
;
Bruce D. McCombe
;
SUNY/Buffalo
;
Buff
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
33.
Spectrally resolved luminescence of InP at low temperatures using minority carrier injection from a scanning tunneling microscope tip
机译:
使用扫描隧道显微镜尖端的少数载流子注入,在低温下InP的光谱分辨发光
作者:
Mats-Erik Pistol
;
Univ. of Lund
;
Lund
;
Sweden
;
Joakim Lindahl
;
Univ. of Lund
;
Lund
;
Sweden
;
Lars Montelius
;
Univ. of Lund
;
Lund
;
Sweden
;
Lars Samuelson
;
Univ. of Lund
;
Lund
;
Sweden.
会议名称:
《Spectroscopic Characterization Techniques for Semiconductor Technology IV》
|
1992年
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