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Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays
Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays
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1.
Roughness characterization of ultrasmooth surfaces using common-path interferometry
机译:
使用共路径干涉法表征超光滑表面的粗糙度
作者:
Baishi Wang
;
Chapman Instruments
;
Rochester
;
NY
;
USA
;
S.P. Marchese-Ragona
;
Chapman Instruments
;
Rochester
;
NY
;
USA
;
Thomas C. Bristow
;
Chapman Instruments
;
Rochester
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
2.
Polarization of light scattered by particles on silicon wafers
机译:
硅片上的颗粒散射的光的偏振
作者:
Lipiin Sung
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Un iv. of Maryland/College Park
;
Gaithersburg
;
MD
;
USA
;
George W. Mulholland
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Gaithersburg
;
MD
;
USA
;
Thomas A. Germer
;
National Institute of Standards
;
Tech
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
3.
MR glide inspection for hard disk defect detection
机译:
MR滑动检查用于硬盘缺陷检测
作者:
Michael E. Boyd
;
Phase Metrics
;
Inc.
;
Fremont
;
CA
;
USA
;
Xiaopeng Xu
;
Phase Metrics
;
Inc.
;
Fremont
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
4.
Measurement of scatter from PSL standard spheres deposited on disk surfaces
机译:
测量沉积在磁盘表面上的PSL标准球的散射
作者:
Craig A. Scheer
;
ADE Optical Systems
;
Charlotte
;
NC
;
USA
;
John C. Stover
;
ADE Optical Systems
;
Charlotte
;
NC
;
USA.
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
5.
Measurements of thin film disks by surface reflectance analysis
机译:
通过表面反射率分析测量薄膜圆盘
作者:
David L. Klein
;
HDI Instrumentation
;
Santa Clara
;
CA
;
USA
;
Gerard H. Vurens
;
HDI Instrumentation
;
Santa Clara
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
6.
Investigations of smooth surfaces by measuring the BRDF with a stray light sensor in comparison with PSD curves evaluated from topography of large AFM scans
机译:
通过使用杂散光传感器测量BRDF与从大型AFM扫描的地形评估的PSD曲线进行比较来研究光滑表面
作者:
Hendrik Rothe
;
Univ. of the Federal Armed Forces
;
Barsbuettel
;
Germany
;
Dorothee Hueser
;
Univ. of the Federal Armed Forces
;
Hamburg
;
Germany
;
Andre Kasper
;
Univ. of the Federal Armed Forces
;
Hamburg
;
Germany
;
Thomas Rinder
;
Univ. of the Federal Armed Forc
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
7.
High-speed interferometric aluminum disk blank tester
机译:
高速干涉铝盘空白测试仪
作者:
Artur G. Olszak
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Ken Stumpe
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Raymond M. Copenhaver
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
George Z. Angeli
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
8.
Cross-linking thin film characterization technique for data storage semiconductor and flat panel display devices
机译:
用于数据存储半导体和平板显示设备的交联薄膜表征技术
作者:
Iris Bloomer
;
nk Technology
;
Inc.
;
Santa Clara
;
CA
;
USA
;
Dale Harrison
;
nk Technology
;
Inc.
;
Santa Clara
;
CA
;
USA
;
Shiva Prakash
;
DAS Devices
;
Milpitas
;
CA
;
USA
;
Kai Zhang
;
EGG Amorphous Silicon
;
Santa Clara
;
CA
;
USA
;
Sean Lian
;
Motorola
;
Austin
;
TX
;
U
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
9.
Composition and thickness distribution of carbon overcoat films on thin film magnetic disks studied with surface reflectance analyzers
机译:
用表面反射分析仪研究薄膜磁盘上碳覆盖膜的组成和厚度分布
作者:
Gerard H. Vurens
;
HDI Instrumentation
;
Santa Clara
;
CA
;
USA
;
David L. Klein
;
HDI Instrumentation
;
Santa Clara
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
10.
Analysis of organic contaminants from silicon wafer and disk surfaces by thermal desorption-GC-MS
机译:
热脱附-GC-MS分析硅晶片和磁盘表面的有机污染物
作者:
Mark Camenzind
;
Balazs Analytical Lab.
;
Sunnyvale
;
CA
;
USA
;
Latif Ahmed
;
Balazs Analytical Lab.
;
Sunnyvale
;
CA
;
USA
;
Anurag Kumar
;
Balazs Analytical Lab.
;
Sunnyvale
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
11.
TIS AFM interferometry and optical profiler correlation of surface roughness on silicon wafers
机译:
硅晶片表面粗糙度的TIS AFM干涉法和光学轮廓仪相关性
作者:
Patrick A. Taylor
;
Mitsubishi Silicon America
;
Salem
;
OR
;
USA
;
Dean J. Dawson
;
Veeco Instruments Inc.
;
Santa Barbara
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
12.
Modeled and measured scatter from vias
机译:
建模和测量来自过孔的散射
作者:
John C. Stover
;
ADE Optical Systems
;
Charlotte
;
NC
;
USA
;
Craig A. Scheer
;
ADE Optical Systems
;
Charlotte
;
NC
;
USA
;
Vladimir I. Ivakhnenko
;
ADE Optical Systems
;
Charlotte
;
NC
;
USA
;
Yuri Eremin
;
Moscow State Univ.
;
Russia
;
Natalia Grishina
;
Moscow State Uni
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
13.
Laser Fizeau interferometer for silicon wafer site flatness testing
机译:
激光Fizeau干涉仪,用于硅晶圆平面度测试
作者:
Erik Novak
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Artur G. Olszak
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Ken Stumpe
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Robert E. Knowlden
;
Veeco Instruments Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Leonid Malevanchik
;
Veeco Inst
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
14.
BeamM2AP: real-time focus alignment and M2 measurement of tightly focussed laser beams
机译:
BeamM2AP:紧密聚焦的激光束的实时焦点对准和M2测量
作者:
Andrew D. MacGregor
;
Photonic Solutions
;
Boulder
;
CO
;
USA
;
Steven E. Garvey
;
DataRay Inc.
;
Boulder Creek
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Surface Characterization for Computer Disks, Wafers, and Flat Panel Displays》
|
1999年
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