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Annual conference on applications of X-ray analysis
Annual conference on applications of X-ray analysis
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1.
FATIGUE CRACKS IN ALUMINUM SAMPLES STUDIED WITH X-RAY PHASE CONTRAST IMAGING AND WITH ABSORPTION MICROTOMOGRAPHY
机译:
用X射线相位对比度成像和吸收微观图谱研究的铝样品中的疲劳裂缝
作者:
S.R. Stock
;
K. Ignatiev
;
G.R. Davis
;
J.C. Elliott
;
K. Fezzaa
;
W.-K. Lee
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
2.
X-RAY FLUORESCENCE MICROANALYSIS OF BIOMEDICAL AND ENVIRONMENTAL SAMPLES
机译:
生物医学和环境样品的X射线荧光微分分析
作者:
M. Lankosz
;
M. Boruchowska
;
J. Ostachowicz
;
D. Adamek
;
B. Tomik
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
3.
MINERAL PHASE MICROSTRUCTURE IN TEETH OF THE SHORT SPINED SEA URCHIN (Lytechinus variegatus) STUDIED WITH X-RAY PHASE CONTRAST IMAGING AND WITH ABSORPTION MICROTOMOGRAPHY
机译:
短脉冲海胆(Lytechinus Variegatus)牙齿的矿物相微观结构用X射线相位对比度成像和吸收微微映射研究
作者:
S.R. Stock
;
Thomas Dahl
;
Joseph Barss
;
Arthur Veis
;
K. Fezzaa
;
K. Lee
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
4.
A NON-DESTRUCTIVE X-RAY FLUORESCENCE METHOD FOR ANALYSIS OF METAL ALLOY WIRE SAMPLES
机译:
一种用于分析金属合金线样品的非破坏性X射线荧光方法
作者:
Steven J. Goldstein
;
L. Dale Sivils
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
5.
INSITUXKD TO OPTIMIZE POWDER SYNTHESIS OF AURIVILLIUS PHASES
机译:
Insituxkd优化Aurivillius阶段的粉末合成
作者:
Michael S. Haluska
;
Scott Speakman
;
Scott T. Misture
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
6.
SULFATE ATTACK OF PORTLAND CEMENT STUDIED BY X-RAY MICROTOMOGRAPHY (MICRO-CT)
机译:
X射线显微镜(Micro-CT)研究了波特兰水泥的硫酸盐攻击
作者:
S.R. Stock
;
K. Ignatiev
;
A.P. Wilkinson
;
N. Naik
;
K.E. Kurtis
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
7.
FACTORS INFLUENCING QUANTITATIVE RESULTS FOR COAL COMBUSTION BY-PRODUCTS USING THE RIETVELD METHOD
机译:
利用RIETVELD方法影响煤炭燃烧副产品的定量结果的因素
作者:
Robin M. Gonzalez
;
Timothy D. Lorbieke
;
Brad W. McIntyre
;
James D. Cathcart
;
Michael Brownfield
;
Ryan S. Winburn
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
8.
TXRF TO MONITOR FOR HIGH K DIELECTRIC MATERIAL CONTAMINATION IN A SEMICONDUCTOR FAB
机译:
TXRF监测半导体Fab中的高k介电材料污染
作者:
Chris Sparks
;
Meredith Beebe
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
9.
MICRO STRAIN IN HMX INVESTIGATED WITH POWDER X-RAY DIFFRACTION AND CORRELATION WIT THE MECHANICAL SENSITIVITY
机译:
用粉末X射线衍射和相关机械敏感性研究HMX中的微菌株
作者:
Michael Herrmann
;
Walter Engel
;
Herbert G(o)bel
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
10.
QUANTIFICATION OF MERCURY, LEAD, AND CADMIUM IN AQUEOUS SOLUTIONS BY ENERGY K X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY
机译:
通过能量K X射线荧光光谱法定量水溶液中水溶液中的汞溶液
作者:
P. Suwanathada
;
T.A. DeVol
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
11.
A NEW REGULARIZATION METHOD TO DETERMINE STRAIN/STRESS DEPTH PROFILES FROM DIFFRACTION EXPERIMENTS
机译:
一种新的正则化方法,用于确定衍射实验的应变/应力深度谱
作者:
Harald Wern
;
Patrick Klein
;
Günter Marchand
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
12.
In Situ High-Temperature Study Of Silver Behenate Reduction To Silver Metal Using Synchrotron Radiation
机译:
使用同步辐射辐射,原位高温研究银金属对银金属
作者:
Tom Blanton
;
Mark Lelental
;
Slawomir Zdzieszynski
;
Scott Misture
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
13.
SELFCONSISTENT DETERMINATION OF THE X-RAY ELASTIC CONSTANTS OF POLYCRYSTALLINE MATERIALS FOR ARBITRARY CRYSTAL SYMMETRY
机译:
自由分子测定任意晶体对称的多晶材料的X射线弹性常数
作者:
N. KOCH
;
H. WERN
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
14.
NON-TRADITIONAL POWDER CRYSTALLOGRAPHY IN THE PETROCHEMICAL INDUSTRY
机译:
石油化工工业中非传统粉末晶体学
作者:
James A. Kaduk
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
15.
X-ray Diffraction and Vibrational Spectroscopy of Catalysts for Exhaust Aftertreatment
机译:
废气后处理催化剂的X射线衍射和振动光谱
作者:
Roger England
;
Howard Fang
;
Thomas R. Watkins
;
Michael J. Lance
;
Douglas Blom
;
Ridge National Laboratory
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
16.
BACKGROUND SUBTRACTION FOR TRACE-ELEMENT ANALYSIS –ANALYTICAL COMPARISON OF METHODS
机译:
痕量元素分析的背景减法 - 分析方法比较
作者:
Rex Couture
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
17.
X-RAY ANALYSIS OF RESIDUAL STRESS DISTRIBUTION IN WELD REGION
机译:
焊接区域残余应力分布的X射线分析
作者:
J.T. Assis
;
V Monin
;
J.R.Teodosio
;
T. Gurova
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
18.
QUANTITATIVE ANALYSIS OF LOW-Z ELEMENTS IN TOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY
机译:
总反射X射线荧光光谱中低Z元素的定量分析
作者:
M. Doi
;
M. Yamagami
;
T. Shoji
;
T. Yamada
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
19.
Applications of 2D Detectors in X-ray Analysis
机译:
2D检测器在X射线分析中的应用
作者:
M. B. Dickerson
;
K. Pathak
;
K. H. Sandhage
;
R. L. Snyder
;
U. Balachandran
;
B. Ma
;
R.D. Blaugher
;
R.N. Bhattacharya
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
20.
SYNCHROTRON X-RAY AND NEUTRON FIBER DIFFRACTION STUDIES OF CELLULOSE POLYMORPHS
机译:
Synchrotron X射线和中子纤维衍射研究纤维素多晶型物
作者:
Yoshiharu Nishiyama
;
Henri Chanzy
;
Masahisa Wada
;
Junji Sugiyama
;
Karim Mazeau
;
Trevor Forsyth
;
Christian Riekel
;
Martin Mueller
;
B.Rasmussen
;
Paul Langan
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
21.
APATITE STRUCTURES
机译:
磷灰石结构
作者:
JC Elliott
;
RM Wilson
;
SEP Dowker
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
22.
TEMPERATURE-INDUCED CONTRAST VARIATION AS A TOOL FOR CHARACTERIZING ANISOTROPIC POLYMER MICROSTRUCTURES
机译:
温度诱导的对比度变化作为表征各向异性聚合物微结构的工具
作者:
John D. Barnes
;
Wim Bras
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
23.
POLYCAPILLARY OPTICS FOR ANGULAR FILTERING OF X-RAYS AND NEUTRONS IN TWO DIMENSIONS
机译:
用于两维的X射线和中子的角度滤波的多百分点光学
作者:
W.M. Gibson
;
H. Huang
;
J. Nicolich
;
P. Klein
;
C.A. MacDonald
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
24.
POLYCAPILLARY OPTICS BASED NEUTRON FOCUSING FOR SMALL SAMPLE NEUTRON CRYSTALLOGRAPHY
机译:
基于聚征的光学基于小样本中子晶体的中子
作者:
W.M. Gibson
;
H.H. Chen-Mayer
;
D.F.R. Mildner
;
H.J. Prask
;
A.J. Schultz
;
R.Youngman
;
T. Gnaupel-Herold
;
M.E. Miller
;
R. Vit
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
25.
X-ray Stress Measurement for Ni-Al System Intel-metallic Compound Prepared by SHS- method
机译:
由SHS-方法制备的Ni-Al系统英特尔金属化合物的X射线应力测量
作者:
Takavuki MUROTANI
;
Juwen HE
;
Toshihiko SASAKI
;
Hajime HIROSE
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
26.
TOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE FOR ENVIRONMENTAL SAMPLES
机译:
环境样品的总反射X射线荧光
作者:
Martina Schmeling
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
27.
USABILITY OF PORTABLE X-RAY SPECTROMETER FOR DISCRIMINATION OF VALENCE STATES
机译:
便携式X射线光谱仪的可用性,用于辨别价态
作者:
I.A.Brytov
;
R.I.Plotnikov
;
B.D.Kalinin
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
28.
FOCUSING POLYCAPILLARY OPTICS FOR DIFFRACTION
机译:
聚焦衍射的多百张光学
作者:
H. Huang
;
C. A. MacDonald
;
W. M. Gibson
;
J.R. Ruble
;
J. X. Ho
;
D.C. Carter
;
J. Chik
;
A. Parsegian
;
I. Ponomarev
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
29.
FEASIBILITY OF IN SITU TXRF
机译:
原位TXRF的可行性
作者:
A. Singh
;
P. Goldenzweig
;
K. Baur
;
S. Brennan
;
P. Pianetta
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
30.
X-RAY DIFFRACTION STUDY ON HIGHLY ORDERED MESOSTRUCTURED THIN FILMS
机译:
高度有序型胶膜薄膜的X射线衍射研究
作者:
T. Noma
;
H. Miyata
;
K. Takada
;
A. Iida
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
31.
EFFECT OF HEAT TREATMENT ON RESIDUAL STRESS PROFILES OF PULSE-PLATED CRACK-FREE Cr LAYER
机译:
热处理对无脉冲裂缝Cr层残余应力分布的影响
作者:
Yuichi KOBAYASHP
;
Jun-ichi NAGASAWA
;
Kazuo WATANABE
;
Kiichi NAKAMURA
;
Toshihiko SASAKI
;
Yukio HIROSE
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
32.
RIETVELD REFINEMENT OF LiCoO2-TYPE LAYERED STRUCTURES: SEMI-QUANTITATIVE ANALYSIS OF Li CONTENTS
机译:
LietVeld精制LiCoO2型分层结构:LI内容的半定量分析
作者:
Mark A. Rodriguez
;
David Ingersoll
;
Daniel H. Doughty
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
33.
RIETVELD STRUCTURE REFINEMENT OF CARBONATE AND SULFITE ETTRINGITE
机译:
RIETVELD结构细化碳酸盐和亚硫酸盐ETTRINGITE
作者:
D.G. Grier
;
E.L. Jarabek
;
R.B. Peterson
;
L.E. Mergen
;
G.J. McCarthy
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
34.
AN INNOVATED LABORATORY XAFS APPARATUS
机译:
创新的实验室XAFS设备
作者:
TAGUCHI Takeyoshi
;
HARADA Jimpei
;
TOHJI Kazuyuki
;
SHINODA Kohzo
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
35.
A QUARTER CENTURY OF ROUND ROBIN TESTS ON XRD
机译:
XRD的四分之一世纪循环试验
作者:
G. Berti
;
M. DAcunto
;
F. De Marco
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
36.
XRF ANALYSIS OF AUTOMOTIVE CATALYSTS BY FLUX/FUSION
机译:
通量/融合的汽车催化剂XRF分析
作者:
A. R. Drews
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
37.
QUANTIFICATION OF GALLIUM IN DRIED RESIDUE SAMPLES BY XRF: AN IMPROVED SAMPLE PREPARATION METHOD FOR ANALYZING PLUTONIUM METAL
机译:
XRF的干燥残余物样品中镓的定量:改进的分析钚金属样品制备方法
作者:
Christopher G. Worley
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
38.
SYSTEMATIC ERRORS IN METAL STRIP DIFFRACTION FURNACES
机译:
金属条衍射炉中的系统误差
作者:
S.T. Misture
;
C.R. Hubbard
;
X.L. Wang
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
39.
STRUCTURAL AND OPTICAL PROPERTIES OF IRIDIUM FILMS ANNEALED IN AIR
机译:
铱膜的结构和光学性质在空气中退火
作者:
Sandeep Kohli
;
David Niles
;
Christopher D.Rithncr
;
Peter K.Dorhout
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
40.
HIGH CONTRAST IMAGING WITH POLYCAPILLARY OPTICS
机译:
具有多谱光学的高对比度成像
作者:
C. A. MacDonald
;
W. M. Gibson
;
F. R. Sugiro
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
41.
POLYCPILLARY OPTICS: AN ENABLING TECHNOLOGY FOR NEW APPLICATIONS
机译:
Polycillary光学:用于新应用的启用技术
作者:
David Gibson
;
Walter Gibson
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
42.
Measurement of Residual Stresses in Fiber Reinforced Composites Based on X-Ray Diffraction
机译:
基于X射线衍射的纤维增强复合材料残留应力的测量
作者:
B. Bcncdikt
;
P. K. Prcdccki
;
L. Kumosa
;
P. Rupnowski
;
M. Kumosa
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
43.
THE CHANGING YEARS: 1980-1997
机译:
变化年:1980-1997
作者:
Paul K. Predecki
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
44.
THE NAMES BEHIND THE DENVER CONFERENCE AWARDS THE BIRKS AWARD IN X-RAY SPECTROMETRY
机译:
丹佛会议背后的名字奖励X射线光谱法奖
作者:
John V. Gilfrich
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
45.
USE OF ACCURATE STRUCTURE DATA FROM X-RAY POWDER DIFFRACTION TO SIMULATE THE MAGNETIC PROPERTIES OF RARE EARTHS
机译:
从X射线粉末衍射使用精确的结构数据以模拟稀土的磁性
作者:
Jorma H?ls?
;
Manu Lahtinen
;
Mika Lastusaari
;
Janne Niittykoski
;
Regino Sáez Puche
;
Jussi Valkonen
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
46.
THE LINE OVERLAP CORRECTION BY THEORETICAL INTENSITY
机译:
这条线通过理论强度重叠校正
作者:
Y.Yamada
;
Y.Kataoka
;
N.Kawahara
;
H.Kohno
;
J.Martin
;
A.Martin
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
47.
TEXTURE AND PRESS FORMABILITY OF DUAL-PHASE STAINLESS STEEL SHEET
机译:
双相不锈钢板材的纹理和压制成形性
作者:
Tokimasa Goto
;
Takashi Kondoh
;
Toshihiko Sasaki
;
Yukio Hirose
;
Hirofumi Inoue
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
48.
SURFACE AREA OF INTERSTRATIFIED PHYLLOSILICATES IN ATHABASCA OIL SANDS FROM SYNCHROTRON XRD
机译:
来自Synchrotron XRD的Athabasca油砂中均梭菌的表面积
作者:
Oladipo Omotoso1
;
Randy J. Mikula1
;
Peter W. Stephens
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
49.
ELASTIC STRAIN EVOLUTION IN SINGLE-FIBER METAL MATRIX COMPOSITES UNDER TENSILE LOADING
机译:
拉伸载荷下单纤维金属基复合材料中的弹性应变进化
作者:
Jay C. Hanan
;
Ersan (U)stündag
;
Irene J. Beyerlein
;
Geoffrey A. Swift
;
Bjorn Clausen
;
Donald W. Brown
;
Mark A. M. Bourke
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
50.
A HISTORICAL REVIEW OF RETAINED AUSTENITE AND ITS MEASUREMENT BY X-RAY DIFFRACTION
机译:
保留奥氏体的历史综述及其X射线衍射测量
作者:
S. H. Magner
;
R. J. De Angelis
;
W. N. Weins
;
J. D. Makinson
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
51.
ANALYSIS OF LEAD IN CANDLE PARTICULATE EMISSIONS BY XRF USING UNIQUANT~? 4
机译:
XRF使用唯一程式扫描颗粒排放铅的分析〜? 4.
作者:
Shirley J. Wasson
;
Zhishi Guo
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
52.
FUNDAMENTAL PARAMETER METHOD FOR THE LOW ENERGY REGION INCLUDING CASCADE EFFECT AND PHOTOELECTRON EXCITATION
机译:
低能量区域的基本参数方法,包括级联效应和光电子励磁
作者:
N.Kawahara
;
T.Shoji
;
T.Yamada
;
Y.Kataoka
;
B.Beckhoff
;
G.Ulm
;
M.Mantler
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
53.
USE OF IN-SITU XRD TO DEVELOP CONDUCTING CERAMICS WITH THE AURIVILLIUS CRYSTAL STRUCTURE
机译:
使用原位XRD与Aurivillius晶体结构开发导电陶瓷
作者:
Scott A. Speakman
;
Viral B. Modi
;
Mike S. Haluska
;
Scott T. Misture
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
54.
DAMAGE EVOLUTION IN Ti-SiC UNIDIRECTIONAL FIBER COMPOSITES
机译:
Ti-SiC单向纤维复合材料中的损伤演变
作者:
Jay C. Hanan
;
Geoffrey A. Swift
;
Ersan üstündag
;
Irene J. Beyerlein
;
Bj?rn Clausen
;
Jonathan D. Almer
;
Ulrich Lienert
;
Dean R. Haeffner
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
55.
JOHN CRISS COMMEMORATIVE SESSION: QUANTITATIVE XRF OPENING REMARKS
机译:
John Criss纪念会议:量化XRF开幕词
作者:
John V. Gilfrich
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
56.
TXRF FOR SEMICONDUCTOR APPLICATIONS
机译:
用于半导体应用的TXRF
作者:
Yoshihiro Mori
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
57.
MATRIX-INDEPENDENT XRF METHODS FOR CERTIFICATION OF STANDARD REFERENCE MATERIALS
机译:
矩阵无关的XRF方法,用于标准参考资料的认证
作者:
John R. Sieber
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
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2002年
58.
XRD PEAK BROADENING EFFECTS IN U-Mo α″ PHASE
机译:
U-Moα“阶段XRD峰值膨胀效应
作者:
E. Dabush
;
J. Sariel
;
I. Dahan
;
G. Kimmel
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
59.
IMPROVED MODELING OF RESIDUAL STRAIN/STRESS AND CRYSTALLITE-SIZE DISTRIBUTION IN RIETVELD REFINEMENT
机译:
提高RIETVELD改进的残留应变/应力和微晶尺寸分布的建模
作者:
Davor Balzar
;
Nicolae C. Popa
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
60.
SIGNIFICANCE OF EXPERIMENTAL ERRORS IN RESIDUAL STRESS DETERMINATIONS USING Θ:Θ DIFFRACTOMETERS
机译:
使用θ:θ衍射计的残余应力测定实验误差的重要性
作者:
H.W. King
;
S.H. Ferguson
;
S. Gursan
;
M. Yildiz
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
61.
X-RAY FOCUSING CRYSTAL VON HAMOS SPECTROMETER WITH A CCD LINEAR ARRAY AS A DETECTOR
机译:
具有CCD线性阵列作为探测器的X射线聚焦晶体von滨镜谱仪
作者:
A. Shevelko
;
A. Antonov
;
I. Grigorieva
;
Yu. Kasyanov
;
O.Yakushev
;
L. Knight
;
Q. Wang
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
62.
DEVELOPMENT OF MgO CERAMIC STANDARDS FOR X-RAY AND NEUTRON LINE BROADENING ASSESSMENTS
机译:
开发X射线和中子线扩大评估的MgO陶瓷标准
作者:
Suminar Pratapa
;
Brian OConnor
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
63.
A QUICK AND RELIABLE FUSION METHOD FOR SILICON AND FERROSILICON
机译:
硅和硅铁的快速可靠的融合方法
作者:
Jimmy Blanchcttc
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
64.
RIETVELD REFINEMENT OF POWDER DATA FROM MULTILAYER OPTICS
机译:
来自多层光学的粉末数据的RIETVELD细化
作者:
Scott T. Misture
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
65.
MICRO-STRAIN IN Y_(0.5)R_(0.5)Ba_2Cu_3O_(7-X) (R=Yb, Tm, Er, Ho, Dy, Gd, Eu, Sm, AND Nd)
机译:
Y_(0.5)R_(0.5)Ba_2cu_3O_(7-x)(r = Yb,Tm,Er,HO,Dy,Gd,Eu,Sm和Nd)中的微菌株
作者:
Eric J. Peterson
;
William L. Hults
;
Michael Simpson
;
J. Yates Coulter
;
James L. Smith
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
66.
Development of Accelerator –Based X-ray Fluorescence for Large Sample Assay
机译:
基于加速器的X射线荧光进行大型样品测定的发展
作者:
D.P. Wells
;
F. A. Selim
;
J. F. Harmon
;
W. Scates
;
J. Kwofie
;
R. Spaulding
;
S.P. Duttagupta
;
J.L. Jones
;
T. White
;
T. Roney
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
67.
CHARACTERIZATION OF NANOMETER LAYERED STRUCTURES USING MULTIPLE WAVELENGTH X-RAY REFLECTOMETRY AND SIMULATED ANNEALING DATA ANALYSIS
机译:
使用多波长X射线反射测量法和模拟退火数据分析的纳米层状结构的表征
作者:
E. Ziegler
;
C. Ferrero
;
F. Lamy
;
C. Chapron
;
Ch. Morawe
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
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2002年
68.
POLYCAPILLARY OPTICS AND X-RAY ANALYTICAL TECHNIQUES
机译:
多毛细管光学和X射线分析技术
作者:
Yiming Yan
;
Walter M. Gibson
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
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2002年
69.
THE RESIDUAL STRESS MEASUREMENT OF TiCN PVD FILMS
机译:
TICN PVD薄膜的残余应力测量
作者:
Shigeki Takago
;
Masahide Gotoh
;
Toshihiko Sasaki
;
Yukio Hirose
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
70.
X-RAY DIFFRACTION STUDY ON THE FORMATION OF ULTRAFINE NANOSTRUCTURES BY CRYSTALLIZATION OF METALLIC GLASSES
机译:
金属玻璃结晶结晶X射线衍射研究
作者:
N. Mattern
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
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2002年
71.
THE VERY EARLY YEARS OF THE DENVER X-RAY CONFERENCE
机译:
丹佛X射线会议的早期几年
作者:
William M. Mueller
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
72.
SIMULTANEOUS XRD/XRF WITH LOW-POWER X-RAY TUBES
机译:
具有低功耗X射线管的同时XRD / XRF
作者:
S. Cornaby
;
A. Reyes-Mena
;
P. W. Moody
;
T. Hughes
;
A. Stradling
;
T. Grow
;
L. V. Knight
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
73.
CALIBRATION MONITORING OF DIFFRACTOMETERS
机译:
衍射计的校准监测
作者:
Giovanni Berti
;
Mario D’Acunto
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
74.
AUTOMATED PROCESSING OF 2D POWDER DIFFRACTION DATA
机译:
自动化2D粉末衍射数据
作者:
S. Vogel
;
L. Ehm
;
K. Knorr
;
G. Braun
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
75.
Stress Errors Associated with Miniaturization of X-Ray Stress Analyzer
机译:
与X射线应力分析仪小型化相关的压力误差
作者:
Toru Goto
;
Yu Gong
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
76.
HIGH RESOLUTION Debye-Scherrer CAMERA INSTALLED AT Spring-8
机译:
Spring-8安装的高分辨率Debye-Scherrer相机
作者:
M.Takata
;
E.Nishibori
;
K.Kato
;
Y.Kubota
;
Y.Kuroiwa
;
M.Sakata
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
77.
X-RAY OPTICS FOR TWO-DIMENSIONAL DIFFRACTION
机译:
二维衍射X射线光学器件
作者:
Bob B. He
;
Uwe Preckwinkel
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
78.
NON-DESTRUCTIVE 3D STRUCTURAL STUDIES BY X-RAY MICROTOMOGRAPHY
机译:
X射线显微镜图的非破坏性3D结构研究
作者:
GR Davis
;
SEP Dowker
;
JC Elliott
;
P Anderson
;
HS Wassif
;
A Boyde
;
AE Goodship
;
SR Stock4
;
K Ignatiev
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
79.
IMPROVING THE ACCURACY OF RIETVELD-DERIVED LATTICE PARAMETERS BY AN ORDER OF MAGNITUDE
机译:
通过幅度提高Rietveld衍生的晶格参数的准确性
作者:
B. H. OConnor
;
S. Pratapa
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
80.
SR-XRF INVESTIGATION OF HUMAN BONE
机译:
人骨的SR-XRF调查
作者:
P. Wobrauschek
;
G. Pepponi
;
C. Streli
;
C. Jokubonis
;
G. Falkenberg
;
W. Osterode
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
81.
A DIFFRACTOMETER FOR X-RAY STUDIES OF TBC BOND COATS BENEATH ZIRCONIA TOP COATS
机译:
用于氧化锆下层TBC键涂层的X射线研究的衍射仪
作者:
K. Vaidyanathan
;
D. Pease
;
E. Jordan
;
H. Canistraro
;
M. Gell
;
T. Watkins
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
82.
PREDICTING FATIGUE FAILURE USING A TWO – DIMENSIONAL X-RAY DETECTOR
机译:
使用二维X射线检测器预测疲劳失效
作者:
Ralph G. Tissot
;
Mike O. Eatough
;
Ray P. Goehner
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
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2002年
83.
THE CHANGING YEARS - 1970 to 1980
机译:
变化年 - 1970年至1980年
作者:
Clayton O. Ruud
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
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2002年
84.
Deep multilayer gratings with adjustable bandpass for XRF spectroscopy
机译:
深层多层光栅,具有可调节带通的XRF光谱
作者:
V. V. Martynov
;
Yu. Platonov
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
关键词:
multilayer gratings;
x-rays;
XRF spectroscopy;
85.
INFLUENCE OF RENITRIDING FOR THERMAL FATIGUE PROPERTIES ON NITRIDED HOT WORK DIE STEEL (H13)
机译:
逆转热工作模具钢热疲劳性能的影响(H13)
作者:
Koji Yatsushiro
;
Masaaki Sano
;
Masahiko Hihara
;
Katsuzo Okada
;
Makoto Kuramoto
会议名称:
《Annual conference on applications of X-ray analysis》
|
2002年
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